阅读新闻
电子工程周刊:   ←每周自动接收行业新闻,技术资料,设计文章

下一代自动化测试系统的必备技术

[日期:2008-4-8] 来源:NI  作者: [字体: ]

 

  简介:
  本次研讨会将会探讨下一代自动化测试系统发展的趋势和需求,并提出以软件为中心的模块化的架构,以构建灵活可扩展的、可靠的测试系统,进一步提升系统的吞吐能力,降低系统的投资。内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务以及强大的PXI/PXI Express平台和模块化的I/O,并通过实际的产品和案例逐一介绍从直流到射频的多种功能测试。
  
  本次研讨会专为以下工程师量身定做/精心设计:
  自动化测试测量工程师、研究人员和架构师
  
  您将通过本次研讨会:
  如何构建软件定义的模块化的自动化测试系统
  如何满足客户对测试系统高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求
  深入了解声音振动测试、视频测试、数字信号测试、射频测试、高速数字化仪以及电压、电流、功率等测量应用
  
  涉及的产品/应用/演示包括:
  LabVIEW,TestStand,DIAdem
  PXI/PXI Express平台,从直流到射频的各类模块化硬件
  
  时间地点:
  2008/07/15 昆明 14:00-17:00 昆明绿洲大酒店(昆明盘龙区拓东路80号,在世博大厦对面)
  2008/07/17 惠州 14:00-17:00 惠州康帝国际酒店4楼北京厅(惠州市环城西一路渡口所)
  2008/07/22 福州 14:00-17:00 福州香格里拉大酒店3楼鼓浪屿(福州新权南路9号)
  2008/07/23 绵阳 14:00-17:00 绵阳临园宾馆2楼多功能厅(绵阳临园路东段68号)
  2008/08/19 深圳 14:00-17:00 深圳凯宾斯基酒店3楼K3&K4厅(深圳市南山区后海滨路海德三道)
  
  更多研讨会资料
  PXI Express混合信号仪器视频教程
  LabVIEW8.5技术资料大全

输入地址,我们将和您联系提供门票

人数:
选择时间和地点
姓名:
电话:
传真:
单位:
地址:
邮编:
电邮:


 



标签:ni 
录入:录入员001

【>>>>>察看网友评论 , 或发表您对本文的看法】【 打印
上一篇:下一代自动化测试系统的必备技术
下一篇:NI PAC平台-助您构建领先的工业测控系统

论坛热点

热门笔记



相关新闻