阅读新闻
电子工程周刊:   ←每周自动接收行业新闻,技术资料,设计文章

泛华测控携手NI举办数据采集系统巡回研讨会

[日期:2008-8-20] 来源:21IC中国电子网  作者: [字体: ]

 

由北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部(简称:泛华DAQ事业部)携手美国国家仪器中国有限公司(简称:NI公司)共同举办的 “快速构建高效完整的数据采集系统”全国巡回研讨会陆续在上海、武汉、沈阳、哈尔滨、青岛等全国十六个城市紧锣密鼓的展开。

此次巡回研讨会主要围绕数据采集基础知识、产品选型知识以及LabVIEW、Measurement Studio等开发软件使用技巧等内容进行,为广大测试测量工程师提供数据采集产品的选型指导以及技术咨询。泛华工程师结合多年来的实际案例及目前实际产业需求,通过现场演示和实际操作,帮助客户快速构建高效完整的数据采集系统;同时,此次研讨会也为广大测试测量工程师提供了一个数据采集解决方案交流平台,大家在会间踊跃发言提问,泛华工程师们都给予了细致周到的解答。


 



标签:NI  数据采集 
录入:manan

【>>>>>察看网友评论 , 或发表您对本文的看法】【 打印
上一篇:爱立信与ST成立合资公司 欲创全球领先的无线通信半导体公司
下一篇:安华高科技在40nm硅芯上取得20 Gbps性能表现

论坛热点

热门笔记



相关新闻