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电测仪表
 *新型功率计WT500（横河电机）
日本横河电机株式会社正式在全球发售新型功率计WT500。这是在WT210/WT230的基础上，横河推出的同系列新款功率分析仪器。
(8月20日) [查看全文]
 *最新1 GHz带宽的PXI量化仪（NI）
美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日推出NI PXI-5154量化仪/基于PC的示波器，大大增加了拥有20多个高端、高精度和高通道数的相关产品种类。
(8月7日) [查看全文]
 *软件测试自动化解决方案（风河）
风河系统公司（Wind River）日前发布了其最新的测试自动化解决方案——Wind River Test Management。
(8月5日) [查看全文]
 *双路电压检测器集成芯片IC（特瑞仕）
特瑞仕半导体株式会社开发了XCM410系列的双路电压检测器而形成的集成芯片(IC)。
(7月24日) [查看全文]
 *互动语音应答系统（泰克）
Zoey为包括VoIP、无线和PSTN用户在内的语音客户提供个性化自助测试系统，帮助服务提供商降低客户转网率。
(7月23日) [查看全文]
 *扩展3700系列开关/万用表新型插卡（Keithley）
美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布了两款新型插卡：3724型双1X30固态FET继电器多路转换卡和3750型多功能I/O卡，从而扩展了其3700系列开关/万用表和插卡产品系列。
(7月22日) [查看全文]
 *全新便携式无线电测试仪（安捷伦）
安捷伦推出全新便携式无线电测试仪。一键式功能型测试可以在军用外场维护和中间级维护节省培训和测试使用时间。
(7月18日) [查看全文]
 *MtrX-SPEC 光学计量软件（Labsphere）
蓝菲光学 (Labsphere) 推出 MtrX-SPEC 光学计量软件。适用于 LED、固态光源和其他光源的研究、开发、质量控制和生产，并可以为用户提供良好的分光计调校和光学特性的控制（光通量、色彩、强度和辐照度）。
(7月18日) [查看全文]
 *新型 P-6 表面轮廓仪系统（KLA-Tencor）
KLA-TENCOR 针对科学与太阳能测量需求推出新型 P-6 表面轮廓仪系统。
(7月17日) [查看全文]
 *新型Sfernice P10L微型面板电位计（Vishay）
Vishay 推出的新型 Sfernice P10L 微型面板电位计具有超长使用寿命和超小尺寸。低成本器件具有500,000 个周期的长久使用寿命及 9.6mm 的超小尺寸，采用完全密封式 IP67 封装，且具备低至 ±150 ppm/°C 的典型温度系数。
(7月11日) [查看全文]
 *SignalMeister 2.0版波形生成软件（Keithley）
吉时利发布全新SignalMeister 2.0版波形生成软件，当前市面上唯一一款针对MIMO优化的带有面向对象用户界面（GUI）的波形生成软件。
(7月8日) [查看全文]
 *WavePro 700Zi系列示波器（力科）
力科公司新推出的WavePro系列数字示波器、串行数据分析仪和磁盘驱动器分析仪—700Zi系列集成了杰出的性能、速度和为分析优化的用户界面，增强了设计、调试和验证过程，超越了同类任何其它仪器。
(7月2日) [查看全文]
 *可简化多重播放测试的解决方案（安捷伦）
安捷伦科技公司推出业界首款可简化多重播放测试的解决方案。
(7月1日) [查看全文]
 *多相、多功能电能测量IC（Maxim）
Maxim Integrated Products推出用于测量电特性的高精度、低功耗多相IC MAXQ3180。
(7月1日) [查看全文]
 *高速传输分析仪（横河电机）
横河电机新推高速传输分析仪 NX4000，下一代传输网（NGN）评测的设备
(6月30日) [查看全文]
 *首款将电缆验证与以太网服务测试仪相结合的软件（安捷伦）
安捷伦科技公司推出业界首款，将电缆验证与以太网服务测试仪相结合的软件。
(6月26日) [查看全文]
 *新增WiMAX测试功能的射频测试仪器（吉时利）
吉时利在射频测试仪器中新增WiMAX测试功能，以独有的仪器设计技术向基于4×4信号流和其他新型无线标准Wave 2 MIMO升级提供一条成本低廉的道路。
(6月23日) [查看全文]
 *适用于V93000平台的硅片调试解决方案（惠瑞捷）
惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys 硅片调试解决方案，缩短系统级芯片（SoC）制造者改善成品率的时间。
(6月23日) [查看全文]
 *新型手持式实时频谱分析仪（泰克）
泰克为从现场测试到工作台的全系列设备提供了DPX™技术，包括新推出的SA2600和H600手持式仪器。
(6月18日) [查看全文]
 *Archer 200型叠对测量系统（KLA-Tencor）
KLA-Tencor 公司推出最新型叠对测量系统 Archer 200，它包含一个能够显著改善性能的增强型光学系统，这对于帮助客户在 32 纳米设计规格节点达到双次成图光刻更严格的叠对要求至关重要。
(6月10日) [查看全文]
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