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[导读] 现在,电子元件和印刷电路板运行速度越来越快,体积越来越小,通过使用小零件实现高性能、高速度,达到皮秒(万亿分之一秒)级的精度已经成为了一种潮流,但这也这就意味着零件会发热,甚至出现短路或者部件受损的情况。所以检测这些由于发热而受损的部件对于科研或者产品测试人员来说成为了一种挑战。

 现在,电子元件和印刷电路板运行速度越来越快,体积越来越小,通过使用小零件实现高性能、高速度,达到皮秒(万亿分之一秒)级的精度已经成为了一种潮流,但这也这就意味着零件会发热,甚至出现短路或者部件受损的情况。所以检测这些由于发热而受损的部件对于科研或者产品测试人员来说成为了一种挑战。

本文引用地址: http://www.21ic.com/np/analog/201708/733816.htm

而全球红外热像领域的高端供应商菲力尔最新推出的FLIR ETS320™红外热成像仪正好解决了这个难题,作为FLIR推出的专门针对在实验室环境下进行电子元件和印刷电路板(PCB)热特性测试与分析而设计的红外热像仪,FLIR ETS320™可以提高电子产品行业的测试和诊断精度,帮助工程师和测试技术员在数秒钟内收集精确、可靠的热数据并执行分析,轻松检测出哪些部件受损。

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那么这套针对电子实验室所研发的红外热像仪究竟具备哪些特性,竟然可以使用在处在金字塔顶端的科研领域?

以往,实验室测温一般采用热电偶和点温计两种方法,但是在实践应用中,检测人员需要直接接触需要被检测的电子器件或者印刷电路板,不但操作繁琐,而且也给实验数据的精准性带来了局限。而FLIR ETS320™红外热像仪则完全避免了这些缺点,不仅检测时间短,而且测量精度误差小,在操作方面也极具灵活性,为测试人员提供方便的同时,也促进了产品的设计。

省去估算环节,快速的检测

FLIR ETS320™具有非接触式温度测量和即时热点检测等优点,可摒除热测试中的猜测成分,检测到细微温度变化(< 0.06°C)和量程高达250°C的热生成;无需像使用热电偶和RTD(电阻式温度检测器)测量那样进行热点位置估算,可以快速发现热点和潜在故障点,节省大量时间。

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76,800点温度测量,让设计缺陷无所遁形

借助其搭载的320*240像素的红外传感器,FLIR ETS320™可以提供 76,800点的温度测量,同时具有真45°视场角,可进行范围较广的初次扫描, 检测人员可以轻松锁定热点,识别潜在的故障点,无需担心藏于暗处的散热器。 温度测量精度更是高达±3°C,可测量小至170 μm/像素点尺寸的部件,可以确保产品达到质量保证和工厂验收标准。

小平台设计,解放了人的双手

FLIR ETS320™采用恒定的非接触式热测试方法,将高灵敏度热像仪与可调节的免手持式实验台架相结合,使测试目标稳定地固定在检测仪表下,提供固定、恒定的焦距、不会摇晃和振动,解放了人的双手。在检测时,可以通过拉近镜头对较小的部件进行成像,或者拉远镜头将整个电路板纳入视野,适应了电子元件越来越快,越来越小的检测新要求。

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借助一体式测试台和滑动架,该热像仪系统达到了最佳的灵活性,能够对各种印刷电路板或电子设备进行成像。

连接电脑,高级分析不是事

FLIR ETS320™自带强大的FLIR Tools+软件系统,可以存储1500张照片,具有SD卡存储和USB下载功能。如果需要执行高级分析,例如,绘制时间对应温度的曲线,可以通过USB口将热像仪连接至安装有FLIR Tools+软件的PC或电脑,它可以自动连接并生成实时图像,用于高级分析和数据传输。

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无论是科学研究或工业产品测试,热数据都是是衡量系统运行的一个重要指标。随着电子产品变得越来越小、功能越来越强大,观察和了解这些系统的热性能势在必行。而FLIR ETS320™热像仪具有较高的测量精度,能将细微的温差以可视化的方式呈现,有助于热性能评价、确保环境兼容性以及对多种电子产品执行故障诊断。

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