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活动 第十三届国际电子测试与测量专业研讨会
[导读]时间：2009年11月11日
地点：上海新国际博览中心W2-M9会议室
主办单位：中国电子学会
中国电子器材总公司 会议日程时间演讲题目演讲人09:30-09:45中国电子学会领导致辞中国电子学会常务理事，
电子..
时间：2009年11月11日
地点：上海新国际博览中心W2-M9会议室 |
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 会议背景 |
国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件，极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目，要求紧密结合经济社会发展的重大需求，培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位，我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长。但是在我国目前集成电路产业格局中，测试是相对薄弱环节，国产集成电路设备市场占有率很低，研发严重滞后，与国外水平差距越来越大，已严重影响我国集成电路产业的发展。
为此，中国电子学会和中国电子器材总公司将于11月11日，在“第74届中国（上海）电子展”期间联合主办 “2009集成电路测试技术研讨峰会”，邀请来自台湾、香港著名学者进行“两岸三地”学术交流，共同探讨集成电路最新测试技术、测试方法，以及高性能测试系统研发。
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| 组织结构 |
主办单位：中国电子学会 中国电子器材总公司
承办单位：中国电子学会电子测量与仪器分会
北京自动测试技术研究所
中电会展与信息传播有限公司
支持媒体：《中国电子商情》 《电子测量与仪器学报》
《仪器仪表学报》 《国外电子测量技术》
《电子测量技术》 《电子测试》
中华电子网 中国仪器与测量网 |
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| 会议内容 |
· IC测试系统及设备
数字/模拟混合测试系统
SoC测试系统
存储器测试系
LCD Driver测试系统
电源管理IC测试系统
半导体测试系统和设备
测试系统总线技术
测试系统接口技术
测试系统结构、总线、接口标准
测试系统软件及控制
虚拟测试与在线测试
RF及高速芯片测试系统
· IC 测试技术及方法
DFT（Design For Test, 可测性设计）
BIST(Built In Self Test，内建自测试)
设计验证与测试
扫描测试技术
IC诊断与调试技术
嵌入式系统测试技术
SoC测试标准及方法
IP核测试标准及方法
Sensor、MEMS、Microsystem测试技术
SiP与3D芯片测试技术
测试语言及转换
· IC测试市场及产业分析
集成电路测试产业发展状况与分析
集成电路测试设备市场状况
集成电路测试设备技术发展与产业状况
IC设计、制造与封装技术的发展对测试提出的挑战
专用IC测试系统的市场与发展机遇 |
