测量入门

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半导体C-V测量入门(2)

基本测试配置图3给出了一种基本的C-V测量配置框图。由于C-V测量实际上是在交流频率下进行的，因此待测器件（DUT）的电容可以根据下列公式计算得到： CDUT = IDUT / 2πfVac，其中 IDUT是通过D

测试测量
2018-10-31

c-v 半导体测量入门
半导体C-V测量入门(1)

普通测试电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体器件，尤其是MOSCAP和MOSFET结构的参数。但是，通过C-V测量还能够对很多其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析，包括双极结型晶体管（BJT）、JFET、

测试测量
2018-09-24

c-v 半导体测量入门