摘要:讨论了数模混合芯片的典型测试方法,并按测试方法进行了测试开发;讨论了测试调试中的问题以及降低测试成本的方法。该设计可满足芯片大规模量产的测试需求,并能够达到预期设计目标。
核心正是NI一直推行的以软件为中心的平台化解决方案。“时势造英雄”,NI解决方案在5G时代,在半导体测试领域的异军突起离不开当下多种新兴技术积聚引发的综合效应
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