作者:曹旭荣,方延奋,王业清 (爱德万测试(中国)管理有限公司)摘要:随着SerDes芯片集成度,复杂度,传输速率的不断提高,传统的自动化测试系统已经无法满足SerDes测试速率需求。为解决该测试难题,
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