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泰克推出针对MHL CTS 2.0规范的首款自动测试解决方案
21ic讯 泰克公司日前宣布推出针对最新移动高清连接 (MHL) 一致性测试规范 (CTS) 2.0的自动测试解决方案，支持对发射器 (Tx)、接收器 (Rx) 和dongle 进行物理 (PHY) 层及协议层的测试。该解决方案提供了独特一体化的
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Cd4017网线自动测试器
这种网络自动测试器，可方便地检测网络线的连通情况的连接线序，具有一定的实用价值，最适合初学者自制。电路工作原理见下图所示。用NE555型电路制作成频率约f=1Hz的对称方波，由3脚输出至十进制计数/分频器的IC2、I
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安捷伦在自动测试会议上展出最新ATE解决方案
安捷伦科技公司日前宣布，将在 2012 年自动测试会议（AUTOTESTCON 2012）上展出其最近发布的多种 ATE 仪器和软件。该会议将于 9 月 11 日至 13 日在加州阿纳海姆迪斯尼乐园度假酒店（Disneyland Resort in Anaheim,
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安捷伦在自动测试会议上展出最新ATE解决方案
安捷伦科技公司日前宣布，将在 2012 年自动测试会议（AUTOTESTCON 2012）上展出其最近发布的多种 ATE 仪器和软件。该会议将于 9 月 11 日至 13 日在加州阿纳海姆迪斯尼乐园度假酒店（Disneyland Resort in Anaheim,
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安捷伦在自动测试会议上展出最新ATE解决方案
21ic讯 安捷伦科技公司日前宣布，将在 2012 年自动测试会议(AUTOTESTCON 2012)上展出其最近发布的多种 ATE 仪器和软件。该会议将于 9 月 11 日至 13 日在加州阿纳海姆迪斯尼乐园度假酒店(Disneyland Resort in Ana
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电路板故障诊断的多总线自动测试技术研究
摘要：为满足现代越来越复杂的电子装备的测试需求，结合测试仪器接口多元化的发展，提出了将VXI、GPIB、1394集成于一体的多总线自动化测试系统。该测试系统采用具有高传输速率的VXI与1394总线，提高了电路板功能测试
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DFT测试方法之比较
ASIC设计的平均门数不断增加，这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上，以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法，但对嵌入式RAM、多时钟域、复位线和嵌入式IP的测
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led自动测试与分拣设备是实现高速高精度的关键
杭州中为光电技术有限公司技术总监周铭分析了国内LED封装生产企业对自动测试与分拣设备的需求情况及标准化现状，介绍LED自动测试与分拣设备实现高速高精度的关键问题，以及LED测试与分拣设备工作原理、目前的技术状况
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led自动测试与分拣设备是实现高速高精度的关键
杭州中为光电技术有限公司技术总监周铭分析了国内LED封装生产企业对自动测试与分拣设备的需求情况及标准化现状，介绍LED自动测试与分拣设备实现高速高精度的关键问题，以及LED测试与分拣设备工作原理、目前的技术状况
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基于CompactPCI的GSM基站自动测试平台的构建
中国通讯产业的高速增长促进了通讯制造业的测试技术水平不断改进和发展。在通讯设备的制造过程中，越来越复杂的测试条件和高度自动化的大生产环境，迫切需要开发出功能更强大、成本更低廉、系统更灵活的通用测试仪器
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通用自动测试软件平台设计
传统自动测试系统缺乏通用性，最根本的解决方法是标准化。本文以ABBET（A BroadBased Environment for Test）标准为主,与ATS(Automatic Test System)相关的其他国际标准为辅，采用符合标准描述的软件层次结构，使用C
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泰克推出业界首个MHL CTS 1.2自动测试解决方案
中国北京，2012年3月13日 –全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，推出针对最新移动高清连接（MHL™）一致性测试规范（CTS）1.2的自动测试解决方案，支持对发射机、接收机和转换器（dongle）进行
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云测网络：拓荒移动应用测试领域 推Testin真机自动测试平台
12月23日（曹天鹏）上个月初刚刚获得全球著名风险投资机构千万美金的资金支持，从一开始的白手起家到现在获得风投青睐，云测网络CEO王军站在才搬来不久的新办公室里，脸上浮现出抓住机遇后自信满满的笑容。曾在Pica
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LabVIEW、多核技术及FPGA技术如何改变自动测试
关键字：LabVIEW、多核技术 FPGA技术编辑笔记：Eric Starkloff，美国国家仪器的模块化仪器和仪器控制产品营销总监。他将和我们一起讨论影响仪器技术和自动测试的一些变化，以及NI的LabVIEW，多核处理器技术和现场可编
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泰克推出针对SFP+标准的自动测试和调试解决方案
21ic讯 泰克公司日前宣布，推出用于SFF-8431、SFP+ PHY和SFP+直连电缆规范“10GSFP+CU”测量的首款完善的自动测试和调试解决方案，可显著减少测试时间，并大大提高设计工程师和技术人员的生产力。用于DPO/
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日本爱德万公司董事长访问北京自动测试技术研究所
2010年8月26日，世界著名集成电路测试设备公司日本爱德万(ADVANTEST)公司董事长丸山利雄一行三人到北京自动测试技术研究所访问，所长张东、总工程师冯建科给予了热情的接待。 张东所长向来访人员介绍了测试所目前
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中国LED芯片测试和分选技术获得突破
据了解，LED芯片测试和分选技术，是继LED芯片和外延片后，困扰我国LED行业的另一个重大技术难题。不过，日前已被志成华科率先突破。并成功研发设计了LED芯片自动测试与分选设备，正酝酿开展产业化。据悉目前，志成华
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中国LED芯片测试和分选技术获得突破
据了解，LED芯片测试和分选技术，是继LED芯片和外延片后，困扰我国LED行业的另一个重大技术难题。不过，日前已被志成华科率先突破。并成功研发设计了LED芯片自动测试与分选设备，正酝酿开展产业化。据悉目前，志成华
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基于架构与基于流程的DFT测试方法之比较
ASIC设计的平均门数不断增加，这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上，以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法，但对嵌入式RAM、多时钟域、复位线和嵌入式IP的测
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基于多MCU的自动测试诊断系统的设计
随着IT产业和通信技术、电子技术、计算机技术的高速发展，大量的生产装备和产品的电子化、数字化、自动化、智能化的程度越来越高，与之配套的电子测量设备必须适应这种形势。因此，综合测量技术、电子技术、自动化技
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