简·贝林格博士率领的德国海恩斯研究院科学家携手蒂宾根县罗伊特林根大学与罗伊科那纺织有限公司,开发出纺织材料的声学和声学特性新的测试方法。海恩斯坦研究院利用声学测试仪器可测定纺织材料在何种程度下具
摘要:针对当前严峻的电磁环境,分析了电磁干扰的来源,通过产品开发流程的分解,融入电磁兼容设计,从原理图设计、PCB设计、元器件选型、系统布线、系统接地等方面逐步分析,总结概括电磁兼容设计要点,最后,介绍了
从乘坐飞机限制携带锂电池,到平时手机锂电池的养护,锂电池安全越来越受到人们关注。近日,产品安全测试及认证服务供应商UL发表锂电池的安全议题白皮书,针对应用在便携式电子产品如手机的锂电池进行安全研究。UL还
基于Agent技术的嵌入式智能设备的测试方法
“TD-LTD系统目前正在我国的5个城市中试商用,其终端显现出多制式、多频段和多业务的特点。此外TD-LTE已在国际上16个运营商的36个试验网上得到推广”。这是工业和信息化部电信管理局服务质量监督处沈泳涛处
标签:光纤传输通道 SCS计算机网络结构化综合布线系统(StructuredCablingSystem,SCS)是美国贝尔实验室专家们经过多年研究推出的基于星形拓朴结构的模块系统,也是目前局域网建设首选的系统。该系统具有实用、灵活、
TD-LTE终端相关技术要求的标准制定工作已经启动,预计将在明年完成。据了解,此次标准制定由工信部电信研究院牵头,中国移动(微博)、国家无线电监测中心、华为、中兴、大唐、重邮信科、展讯、诺基亚、三星等产业链众
1、高温高压及其冲击测试:针对对象:LED灯具(含LED Driver的成品灯具)参照标准:行业经验测试方法:1,将5款LED灯具放置在一个室温为60℃的房间;2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍;3,接
1、高温高压及其冲击测试:针对对象:LED灯具(含LED Driver的成品灯具)参照标准:行业经验测试方法:1,将5款LED灯具放置在一个室温为60℃的房间;2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍;3,接
TD-LTE终端相关技术要求的标准制定工作已经启动,预计将在明年完成。据了解,此次标准制定由工信部电信研究院牵头,中国移动(微博)、国家无线电监测中心、华为、中兴、大唐、重邮信科、展讯、诺基亚、三星等产业链众
日前获悉,TD-LTE终端相关技术要求的标准制定工作已经启动,预计将在明年完成。据了解,此次标准制定由工信部电信研究院牵头,中国移动、国家无线电监测中心、华为、中兴、大唐、重邮信科、展讯、诺基亚、三星等产业
标签:电磁干扰 EMC测试一、前言:集成电路产业是我国高新技术产业的一个重要部分,它带动了其它产业的蓬勃发展,集成电路已成为各个行业中电子、机电设备智能化的核心,起着十分重要的作用。近年来越来越多的电路设
摘要:针对当前严峻的电磁环境,分析了电磁干扰的来源,通过产品开发流程的分解,融入电磁兼容设计,从原理图设计、PCB设计、元器件选型、系统布线、系统接地等方面逐步分析,总结概括电磁兼容设计要点,最后,介绍了
摘要:针对当前严峻的电磁环境,分析了电磁干扰的来源,通过产品开发流程的分解,融入电磁兼容设计,从原理图设计、PCB设计、元器件选型、系统布线、系统接地等方面逐步分析,总结概括电磁兼容设计要点,最后,介绍了
在高端运算(先进的微处理器)和消费电子(图形和游戏芯片组)设备中采用的半导体器件一般通过高速串行总线接口提供高达6.4Gbps的数据率,例如PCI Express 和 HyperTransport。根据2005年的国际半导体发展路线图(ITRS),
0引言近年来,开发新一代高速信息网络得到了世界各国的普遍重视,各国都提出了相应的高速网络研究计划,如美国自然科学基金会设立了“下一代Internet研究计划:NGI”,建立了高速网络试验床vBNS(Very High
ASIC设计的平均门数不断增加,这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上,以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法,但对嵌入式RAM、多时钟域、复位线和嵌入式IP的测
1 引言LED(发光二极管)由于其光强高、功耗低、寿命长、可靠性高、易驱动、易与IC相衔接等特点,已被广泛用于交通、商业广告和仪器仪表显示中。而LED的颜色是影响各种显示效果的一种关键因素,决定LED颜色的则是它的波长
光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈
2012年5月30日,半导体照明联合创新国家重点实验室(筹)(以下简称重点实验室)重点项目之一的“LED照明产品可靠性测试方法”研讨会在北京召开,会议邀请了国内在电子产品检测方面具有多年研究基础的机构及LED照明领域具