借物联网契机，NI将走向主流

一直以来，NI被烙上“不是传统仪器”的称号，在测试测量的世界里，貌似并不算是主流。但是，随着技术的变迁，工控、嵌入式及测试测量领域正发生着巨大的变化，尤其是物联网时代，万物互联对通信的挑战，模拟大数据对数据处理及联网技术的挑战，使得传统的方法开始捉襟见肘。而NI提供的以平台为基础的结合软硬件产品的方案开始显现出强大的力量。前不久，在2015 NI Week上，NI公司高调宣布向物联网全面发力，推出了一系列针对物联网应用的新产品和方案，昭示着，在物联网时代，NI将努力走向主流。
 
NI公司创始人、CEO Dr.T在今年的NI Week上指出，模拟大数据处理将是物联网时代的一大挑战。在物联网时代，随着联网设备的迅猛增长，会催生海量的模拟数据，获取、分析及呈现真实世界数据的能力至关重要，如何获取、分析和管理这些海量模拟数据将是部署物联网的一个挑战。

从真实的物理世界到开放的互联数据之间需要有一个强有力的架构去实现，这个架构要集成有计算、通信和感知的能力。以LabVIEW为基础加上NI丰富的模块化硬件组成的图形化系统设计平台将帮助工程师应对物联网及海量模拟数据的挑战。

作为开发工作的基础，LabVIEW在部署物联网应用中是工程师离不开的开发工具，LabVIEW 2015新版本中，NI从多个方面改进提升了工程师编程速度，让编程更有效率。

同时，NI针对物联网应用推出了众多新产品及解决方案，例如，NI针对工业物联网(IIoT)推出新一代控制系统，这些嵌入式系统硬件基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构，包括：高性能CompactRIO控制器，适用于需要系统坚固可靠、环境严苛的工业应用领域的工程师和系统集成商；FlexRIO控制器，适用于高性能嵌入式应用设计工程师；以及Single-Board RIO控制器，适用于需要提高嵌入式应用灵活性的设计工程师。这些控制器集成了来自Intel和Xilinx的最新嵌入式技术，旨在帮助系统设计工程师和机器开发人员应对最严峻的控制和监测挑战。

为了解决物联网模拟大数据挑战，NI推出了CompactDAQ硬件和DIAdem 2015软件：具有四核处理功能的全新4槽和8槽CompactDAQ控制器、全新的14槽USB 3.0 CompactDAQ机箱、DIAdem 2015和DataFinder 2015服务器版，帮助工程师开发更智能的测量和数据管理解决方案。

在物联网时代，产品上市速度也是一大挑战，为了应对更快速的产线测试需求,NI推出了全新无线测试系统，同时在提升测试速率的同时大大降低测试成本。WTS(NI无线测试系统)结合了最新的PXI硬件，为多标准、多DUT和多端口测试提供了一个统一平台。该系统结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件，可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。
 
除了推出针对物联网的产品及解决方案以外，NI还积极加入工业物联网协会，以期在技术标准及测试规范的制定上发挥自己的优势，推动物联网进展。NI公司全球技术市场总监Rahman Jamal先生介绍了NI在工业物联网协会的工作。Rahman指出，NI已与思科、IBM、Bosch等共同推出了多个Testbed，涉及智能电网、状态监测及预维护等多个应用领域。例如，与IBM合作推出了状态监测与预维护Testbed,与思科合作推出了Microgrid Testbed,与Bosch和思科合作推出了Track and Trace Testbed。

从针对物联网应用密集发布软件硬件产品及解决方案，到加入工业物联网协会，引领行业发展，可以看出NI希望在物联网时代做大做强的决心。在今年的NI Week签到处，工程师签到后会领到一个印有“Go Big or Go Home”的别针胸章，就连这个小小的胸章也显示着NI公司誓要“Go Big”的决心，而物联网将是NI公司走向主流“Go Big”的一个重要契机。