爱德万测试产品再升级，放眼未来智能时代

自动化测试设备是现今消费性电子产品、通讯、医疗设备等许多产业赖以进行检测晶片功能规格、确保终端产品品质的工具。伴随着智能产品的不断推出，使得测试过程要求更加严格。爱德万测试为全球半导体产业最大自动化测试设备供应商，致力于提供为客户提供先进测试系统。

近年来手机、Memory以及虚拟货币市场的爆发，使得芯片测试需求增加。爱德万测试管理有限公司VP夏克金博士表示：“为了面对新兴领域的发展趋势，爱德万测试在5G、IoT、数据中心、云测试服务等方面都做了相应的方案。”与此同时，为了服务更多的有测试需要的人群，爱德万测试还推出了爱德万测试大学计划，用视频教育来帮助学生们了解测试过程。

(爱德万测试管理有限公司VP 夏克金 博士)

在本次发布会中，不仅有夏博士为我们介绍了目前爱德万测试公司的发展情况，还有工程师为我们介绍了爱德万测试的新产品。

PCIe Gen 4 SSD解决方案——MPT3000平台

由于SSD是高性能企业和数据中心应用程序选用的专门存储媒介，所以现在PCIe在SSDs中发挥的作用变得更加重要。然而，低价位的非易失性存储器耐久性有限，而且因为生产技术也在不断更新，因此制造了巨大的挑战。对此，爱德万测试推出了业界第一个完全集成的固态硬盘测试解决方案——MPT3000 平台。

爱德万测试管理有限公司高级测试应用工程师Kelvin Chen介绍：“ MPT3000平台现在可以覆盖 PCIe Gen 4设备的所有测试需求，用户可以在 MPT3000 上直接开发 PCIE Gen4，而不用等待第三方厂商提供测试方案。同时，该方案也兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。”

MPT3000平台向用户提供一套从设计到制造的测试流程，并使用与爱德万测试已经投入市场的 PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构和软件，从而简化了向下一代产品升级的过程。

V93000测试系统再升级， 搭载FVI16高功率板卡

在汽车电子领域，随着越来越多的厂商陆续将智能汽车的概念付诸现实，汽车中用到的高功率器件越来越多，厂商该怎样保障其安全。除此之外，在工业控制，大功率快速充电等领域对高电压、大电流的需求等都对测试设备提出了新要求。对此，爱德万测试本次推出了FVI16高功率板卡来替换之前的PVI8板卡，新款板卡将PVI8板卡8个浮动的独立通道提升至16个，有效地降低了测试成本和测试时间。

爱德万测试管理有限公司高级测试工程师Dynax Chen介绍：“与采用传统模拟反馈的其它测试系统相比，搭载 FVI16 板卡的 V93000 测试系统的数字反馈回路设计提供了市场上最佳的信号源，测量精度和模拟功率性能。 数字反馈技术提供多种独特功能，包括无毛刺的“智能连接”和恒定的开尔文监控，实现可靠的和高精度的测量。用户控制的斜率和带宽设置可以实现快速建立稳定时间以适应各自的负载条件。”

高速存储器芯片测试系统T5503HS2

存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路，必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。对于其入厂检测来说，测试向量不仅要自行开发，而且需要达到一定的覆盖率才能检测出存储器的绝大部分功能性错误，这对测试方法、测试设备提出了较高的要求。

爱德万测试的 T5503HS2 是设计用于提供针对新型存储器和现有器件的测试解决方案。该测试系统在测试下一代 LP-DDR5和DDR5器件的同时也允许使用者兼容测试现今的 DDR4，LP-DDR4及高带宽存储器器件，实现了半导体业界最高的同测数和最优利润率。配置的 4.5GHz 高速时钟选配模块使新测试机拥 有了以超过 8 Gbps 的数据传输速率来应对未来存储器芯片测试的可扩展性。

科技发展，产品升级，测试设备已经准备好了迎接未来的智能时代。