本文设计了一套基于微控制器的OLED光电性能综合测试系统,系统以微控制器为核心,是一个将精密恒压(恒流)电源、电压电流测量、温度测量、亮度测量有机地结合在一起的测量系统,可实现测试条件设置、数据存储、分析、图形化显示、打印输出等功能。
得捷芯闻解码研习站第二期:传感器赋予设备感知万物之力
零基础玩转Linux+Ubuntu
PID算法
单片机PID控制算法-基础篇
宋老师手把手教你学单片机
内容不相关 内容错误 其它