魏少军领导团队研发的CPU硬件安全动态监测管控技术便致力于解决这一难题。该技术首次提出用独立的芯片“动态”监测硬件安全,让CPU硬件安全的保障手段从以传统的流程管控和静态检测为主的“事前预防”,扩大到了“事中监测”和“管控危害”,从而构建起了完善的CPU硬件安全防护体系。
由于CCD具有尺寸小、重量轻、功耗低、超低噪声、动态范围较大、线性好、光计量准确、光谱响应范围宽、几何结构稳定、工作可靠和耐用等优点,因而在工件尺寸测量、工件表面质量检测。
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