随着嵌入式系统复杂性的日益增加,传统的基于物理硬件的测试方法已难以满足高效、快速、安全的测试需求。硬件在环(HIL)测试作为一种先进的测试技术,通过将嵌入式软件与仿真模型相结合,在无需实际物理硬件的情况下,对系统进行全面的功能验证和性能评估。本文将深入探讨嵌入式硬件在环测试的自动化用例设计与执行,旨在提高测试效率,确保软件质量。
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