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微型化PET探测器：硅光电倍增管（SiPM）阵列的封装挑战
正电子发射断层扫描（PET）作为分子影像技术的核心，其探测器性能直接决定成像质量。随着临床对设备小型化、高灵敏度的需求提升，基于硅光电倍增管（SiPM）的探测器阵列成为研究热点。然而，SiPM阵列的微型化封装面临材料匹配、热管理、信号串扰等关键技术瓶颈。本文从封装架构、工艺优化、性能验证三个维度，系统解析微型化PET探测器的技术挑战与解决方案。
正电子发射断层扫描（PET）作为分子影像技术的核心，其探测器性能直接决定成像质量。随着临床对设备小型化、高灵敏度的需求提升，基于硅光电倍增管（SiPM）的探测器阵列成为研究热点。然而，SiPM阵列的微型化封装面临材料匹配、热管理、信号串扰等关键技术瓶颈。本文从封装架构、工艺优化、性能验证三个维度，系统解析微型化PET探测器的技术挑战与解决方案。
