-
压敏电阻（MOV）的选型误区，通流容量、残压与老化特性的动态测试方法
在电子设备的过压保护体系中，压敏电阻(Metal Oxide Varistor, MOV)如同电路的“安全气囊”，其性能直接决定设备在雷击、静电、开关浪涌等瞬态高压下的生存能力。然而，实际应用中，工程师常因对核心参数理解偏差、测试方法不严谨，导致选型失误或性能误判。本文将深度解析压敏电阻选型中的三大误区，并揭示通流容量、残压与老化特性的动态测试方法。
在电子设备的过压保护体系中，压敏电阻(Metal Oxide Varistor, MOV)如同电路的“安全气囊”，其性能直接决定设备在雷击、静电、开关浪涌等瞬态高压下的生存能力。然而，实际应用中，工程师常因对核心参数理解偏差、测试方法不严谨，导致选型失误或性能误判。本文将深度解析压敏电阻选型中的三大误区，并揭示通流容量、残压与老化特性的动态测试方法。
