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功率半导体生命周期中的测试挑战
功率半导体器件的整个生命周期中需要进行各种测试和表征活动。在这个流程的每一个阶段，工程师面临着不同的测量挑战，从新功率器件早期设计阶段，到诊断故障及最终把器件推向市场。在许多情况下，工程师
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应对现代RF测试挑战，开创信号发生新时代
现代RF系统，如超导量子比特控制器、相阵雷达、MIMO收发机、智能天线发射机和捷变超宽带扩频通信，都基于宽带、相干、多通道结构。传统方式采用矢量信号发生器及IQ 调制器和模拟合成器生成RF信号，由于校准复杂及大规模实现此类系统的成本而存在着许多重大局限。
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是德科技携手汽车电子及能源客户，共同应对测试挑战，加速产业变革
是德科技车用电子测试与测量解决方案研讨会在上海汽车创新港成功落下帷幕，来自是德科技汽车和能源解决方案事业部总经理Siegfried (Sigi) Gross出席会议，并发表了专题演讲。
