-
ADI公司的MEMS加速度计实现结构缺陷的早期检测
Analog Devices, Inc. (ADI)全球领先的半导体公司最近推出了三轴MEMS加速度计，能以极低的噪声执行高分辨率振动测量，可通过无线传感器网络实现结构缺陷的早期检测。最新ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗性能可以延
Analog Devices, Inc. (ADI)全球领先的半导体公司最近推出了三轴MEMS加速度计，能以极低的噪声执行高分辨率振动测量，可通过无线传感器网络实现结构缺陷的早期检测。最新ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗性能可以延
