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一种FPGA单粒子软错误检测电路设计
摘要：分析了FPGA器件发生单粒子效应的空间分布特性，设计并实现了一种面向FPGA单粒子软错误的检测电路。将该电路放置在FPCA待检测电路的附近，利用单粒子效应的空间特性，
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软错误是如何损坏重要信息的?
软错误是指高能粒子与硅元素之间的相互作用而在半导体中造成的随机、临时的状态改变或瞬变。随着SRAM工艺的性能日益提高，越来越低的电压和节点电容使得SRAM器件更易出现软错误。软错误不仅会损坏数据，而且还有可能
