引言 金属磁记忆检测技术自提出后一直具有良好的应用前景，但其理论研究的不足是制约该技术应用和发展的最大瓶颈。现有的理论研究认为，铁磁材料结构表层的隐性缺陷会产生法向磁场分量过零值点
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