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PCB级EMC故障诊断，利用TDR时域反射仪定位信号完整性异常与辐射耦合路径
在高速数字电路与高频模拟电路中，电磁兼容性(EMC)问题已成为制约产品可靠性的核心挑战。PCB(印刷电路板)作为信号传输的物理载体，其布局、走线、层叠设计中的微小缺陷(如阻抗不连续、串扰、辐射耦合)均可能引发信号完整性(SI)异常，导致数据错误、时钟抖动甚至系统崩溃。传统EMC诊断依赖频域分析(如近场探头、频谱仪)，但这类方法仅能定位“问题频点”，难以追溯至PCB物理层根源。时域反射仪(TDR)通过发射高速脉冲并分析反射波形，可精准定位阻抗突变点、耦合路径及介质损耗，成为PCB级EMC故障诊断的“显微镜”。本文结合工程实践，探讨TDR在信号完整性异常定位与辐射耦合路径分析中的应用方法与关键技术。
