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“近动态方程”为你预测芯片内错误
采用一种配备电子失效模拟技术的被称作“近动态方程（peridynamic equations）”的新方法，工程师可以在流片之前，探测到会导致芯片裂缝、破裂和接口故障的设计缺陷。 与传统的的微分方程（differential equations）
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“近动态方程”登场，为你预测芯片内错误
采用一种配备电子失效模拟技术的被称作“近动态方程（peridynamic equations）”的新方法，工程师可以在流片之前，探测到会导致芯片裂缝、破裂和接口故障的设计缺陷。 与传统的的微分方程（differential equations）
