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车规级芯片HALT/HASS测试：多应力耦合加速老化模型构建
车规级芯片作为汽车电子系统的核心部件，其可靠性直接关系到汽车的安全性和性能。HALT（高加速寿命试验）和HASS（高加速应力筛选）测试是提高车规级芯片可靠性的重要手段。然而，在实际应用中，芯片往往受到多种应力的耦合作用，如温度、湿度、振动等。因此，构建多应力耦合加速老化模型对于准确评估车规级芯片的可靠性具有重要意义。
车规级芯片作为汽车电子系统的核心部件，其可靠性直接关系到汽车的安全性和性能。HALT（高加速寿命试验）和HASS（高加速应力筛选）测试是提高车规级芯片可靠性的重要手段。然而，在实际应用中，芯片往往受到多种应力的耦合作用，如温度、湿度、振动等。因此，构建多应力耦合加速老化模型对于准确评估车规级芯片的可靠性具有重要意义。
