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巨量转移后键合强度检测：超声扫描显微镜（SAT）图像AI缺陷识别
在Micro LED显示技术的蓬勃发展中，巨量转移技术作为核心环节，其重要性不言而喻。巨量转移旨在将数以百万计的微小Micro LED芯片高效、精准地转移到目标基板上，以构建高性能的显示面板。然而，转移后的键合强度直接关系到显示面板的可靠性和使用寿命。超声扫描显微镜（Scanning Acoustic Microscope，SAT）作为一种先进的无损检测技术，能够深入探测Micro LED芯片与基板之间的键合情况。而将AI技术应用于SAT图像的缺陷识别，则为巨量转移后键合强度检测带来了新的突破，极大地提高了检测效率和准确性。
