摘要：以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路，在定义的条件下实验，分别测量了运放的输入失调电压UIO，输入失调电流IIO，共模抑制比CMRR，开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相
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