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Leitz Reference BX叶片与玻璃超高精度检测系统
在一个检测周期内，接触式测量和非接触式测量各司其职，Precitec S3光学传感器用于高速测量叶型，而HP-S-X1C固定扫描测头用于精确检查榫头截面。利用专业的叶片检测模块QUINDOS Blade可以简化叶片前缘半径、弦切线、叶型厚度、叶型、叶根和平均外弧线的测量，提高检测效率。
在一个检测周期内，接触式测量和非接触式测量各司其职，Precitec S3光学传感器用于高速测量叶型，而HP-S-X1C固定扫描测头用于精确检查榫头截面。利用专业的叶片检测模块QUINDOS Blade可以简化叶片前缘半径、弦切线、叶型厚度、叶型、叶根和平均外弧线的测量，提高检测效率。
