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借助硬件加速仿真将 DFT 用于芯片设计
可测试性设计 (DFT) 在市场上所有的电子设计自动化 (EDA) 工具中是最不被重视的，纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本，也是如此。最近的分析数据表明，在制造完成后测试芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，这已达到警戒水平。
可测试性设计 (DFT) 在市场上所有的电子设计自动化 (EDA) 工具中是最不被重视的，纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本，也是如此。最近的分析数据表明，在制造完成后测试芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，这已达到警戒水平。
