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SOC的可测试性设计策略
1 引言 可测试设计(DFT)是适应集成电路的发展要求所出现的一种技术，主要任务是对电路的结构进行调整，提高电路的可测性，即可控制性和可观察性。按测试结构分，目前比较成熟的技术主要有测试点
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PCB产品设计的可测试性的定义以及重要性分析
产品设计的可测试性(De sign For Testability. OFT) 也是产品可制造性的主要内容从生产角度考虑也是设计的工艺性之一。
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一种提高遥测信号处理器测试性方法
可测试性定义为：产品能及时准确地确定其状态，隔离其内部故障的设计特性，以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。
