向高

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面向高成品率设计的EDA技术

成品率下滑已成为当今纳米集成电路设计中面临的最大挑战之一。如何在研发高性能IC 同时保证较高的成品率已成为近年来学术界及工业界关注的热点问题。一芯片成品率在电子产品生产中，成品率问题由于与生产成本以及企

电子设计自动化
2018-06-14

成品率技术向高