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利用ATE集成解决方案应对下一代芯片测试平台需求
一般来说，测试设备占地面积大，功耗大，并产生很大的热量需要及时冷却，自动测试设备的机械结构、功耗以及设备制冷都需要很高的成本。如果能把ATE的多种功能高度集成到一块芯片上，就能大大降低上述成本。通过这种高度集成，还能减少使用的元器件数目、PCB板面积、电源消耗、组装调试成本以及失效率。典型ATE系统
一般来说，测试设备占地面积大，功耗大，并产生很大的热量需要及时冷却，自动测试设备的机械结构、功耗以及设备制冷都需要很高的成本。如果能把ATE的多种功能高度集成到一块芯片上，就能大大降低上述成本。通过这种高度集成，还能减少使用的元器件数目、PCB板面积、电源消耗、组装调试成本以及失效率。典型ATE系统
