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MEMS技术基础有哪些?再谈MEMS封装技术
为增进大家对MEMS的认识程度，本文同样基于两点介绍MEMS技术：1.MEMS封装技术，2.MEMS技术的基础。
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非均匀采样的理论基础
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内径测量原理及理论基础
对内径尺寸的测量，国内目前测量的方法多以接触式测量为主。但接触式测量由于测量工具磨损、人为因素等原因造成测量误差较大，不能满足快速、精确的内径尺寸检测要求。本文采用光三角测量原理，结合半导
