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  • 罗德与施瓦茨推出频率高达67 GHz的新款ZNA矢量网络分析仪

    罗德与施瓦茨推出频率高达67 GHz的新款ZNA矢量网络分析仪

    罗德与施瓦茨公司高端矢量网络分析仪 ZNA家族增加两位新成员, 频率范围分别达到50 GHz 和67 GHz。ZNA的新机型拥有出色的射频性能、独特的硬件架构及创新性的全触控操作模式,主要应用领域包括信号完整性测量、 航空航天与国防领域及 5G 元器件和模块测量。 罗德与施瓦茨公司两年前发布世界首款全触控操作模式的矢量网络分析仪ZNA之后,于2021年4月7日,在德国慕尼黑连发两款新品,ZNA矢量网络分析仪家族产品再次得到扩充。 R&S ZNA 拥有出色的射频性能、极宽的动态范围、超低的迹线噪声和友好的全触控操作界面。ZNA采取独特的硬件平台设计,配置四路全相参的内部信号源,另外,可配置第五路信号源,可作为第二路内置本振信号,也可以作为混频器测试中的附加信号源使用。仪表内置八路可以并行测试的测量接收机,该硬件架构是满足器件及模块高难度测量的理想之选。 R&S ZNA 为高端研究和开发人员带来了很大的便利。50 GHz 和67 GHz的新款ZNA为航空和国防工业测量带来新的机遇,满足雷达测试、收发模块测试 、天线测量以及卫星下变频器特性测量等应用。R&S ZNA 具有脉冲信号产生和测量功能,同时还支持各种触发功能。R&S ZNA支持硬件升级来增加更多功能,如直接源监测输出,即使在卫星下变频器等高增益设备上也可以进行准确的测量。 频率范围是R&S ZNA的一项明显优势,高端研发的差分信号完整性测量,频率可以达到67 GHz,与罗德与施瓦茨毫米波变频模块配合,频率可以进一步的扩展。R&S ZNA内部集成了去嵌功能(ISD、SFD、DELTA-L 和 EZD),在高速信号传输PCB线路特性测试中,可以消除测试夹具以及输入输出引线等带来的影响。 R&S ZNA频率完全覆盖 5G 频段,配合罗德与施瓦茨毫米波变频模块,频率可以覆盖6G频段,R&S ZNA是满足未来需要的理想测试方案,并完成开发人员的有源及无源组件(低噪声放大器、滤波器、天线和混频器)的测试。R&S ZCxxx 系列毫米波转换器能够扩展频率范围到太赫兹(THz),提供高动态范围和高输出功率,满足半导体晶圆测试和6G研究中的器件及模块天线测量等需求。 新款R&S ZNA50 和 R&S ZNA67 矢量网络分析仪目前已支持订购。

    时间:2021-04-08 关键词: 罗德与施瓦茨 矢量网络分析仪 网络分析仪

  • 鼎阳科技发布SNA5000X系列矢量网络分析仪

    鼎阳科技发布SNA5000X系列矢量网络分析仪

    2020年12月18日,鼎阳科技正式发布SNA5000X系列矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer),其测量频率高达8.5GHz,支持4端口S参数测量,差分(平衡)测量,时域测量,滤波器插入损耗、带宽、Q值等一键测量,支持端口阻抗转换、端口扩展功能,支持极限测试、纹波测试功能,支持夹具仿真和去嵌入功能,支持线性频率扫描、对数频率扫描、分段频率扫描、线性功率扫描方式,支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校准方法,可广泛应用于滤波器,双工器,天线,有源器件,射频线缆等领域的研发,生产制造。 低噪声,高动态范围 系统动态范围是VNA一个非常重要的指标,它是VNA源的最大输出功率与测试端口本底噪声的差值。SNA5000X的动态范围可达125dB@10Hz IFBW,接收机噪底-125 dBm/Hz,可适用于对动态范围要求比较高的测试场景,比如同时测量滤波器的通带和带外抑制性能。 S参数测试/平衡-不平衡测试 SNA5000X系列支持在多个窗口添加多条迹线进行全4端口S参数测试,并且具备多种显示格式,比如Log Mag,Lin Mag,Smith,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被测物的传输系数,反射系数,驻波比,阻抗匹配,相位,延时等参数。在生产线验证天线,滤波器等的特性时,还可以保存参考迹线或者添加Limit模板进行通过失败测试,有利于提高生产效率。 SNA5000X系列还支持端口阻抗变换功能,比如在测试有源差分放大器时,可将输入输出端口进行阻抗变换,从而进行差分(平衡)测量(比如Scc,Sdd,Scd,Sdc等参数)。此功能还可应用于差分线缆等其他差分类测试。 时域分析功能及眼图功能 在微波射频领域,如何有效消除有害的测试夹具效应是一大挑战。比如在对SMD器件进行测试时需要特定的测试夹具实现测试仪器测试端与器件输入端的转接,导致测试结果中包含了测试夹具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除测试夹具影响的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗转换,去嵌入,适配器移除等。 另外,SNA5000X系列还支持TDR时域反射计测量功能,可在时域对传输线的特征阻抗,时延等参数进行分析。 眼图可以反映信号链路上传输的数字信号的整体特征,从中观察出码间串扰和噪声的影响,进而估计系统的优劣程度。因此,眼图分析是高速系统信号完整性分析的核心。SNA5000X搭载了眼图功能,为需要对高速信号进行时域分析的客户节省了大量成本和时间。 校准件 校准是VNA进行可靠测量前必须进行的步骤。鼎阳科技目前可提供8种SOLT机械校准件,分为经济级校准件和精密级校准件。校准频率范围涵盖DC~9GHz,接口类型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列还可支持其他厂家的校准件及客户自定义校准件的导入,从而保护客户对校准件的投资。 SNA5000X系列包含SNA5052X, SNA5082X, SNA5054X,SNA5084X共4个型号,测量频率范围涵盖9kHz~4.5GHz/8.5GHz,支持2端口和4端口S参数测量,具备12.1英寸触摸屏,支持外接鼠标键盘操作,拥有友好的人机交互界面。相比传统的矢量网络分析仪,体积更小,重量更轻,为客户节省了大量的实验室及生产线空间。SNA5000X系列矢量网络分析仪凭借其丰富的功能及优秀的交互体验,广泛适用于公司研发,生产制造,研究院所等场景。

    时间:2020-12-22 关键词: 鼎阳科技 SNA5000X 矢量网络分析仪

  • 英国比克科技(Pico Technology)发布新一代8.5GHz矢量网络分析仪

    英国比克科技(Pico Technology)发布新一代8.5GHz矢量网络分析仪

    矢量网络分析仪的市场和应用范围在最近几年急剧增长,并且还在继续。增长不仅仅是由我们生活中的微波、吉比特高速信号和无线信号的普及所驱动,还包括在安全空间、介质材料、组织和复合材料中的穿透、短程雷达成像和近距离探测应用的拓展。矢量网络分析仪在幕后支持着我们的数据流、通信、食品、医疗保健、国防、民用基础设施、机器人和自动化。 角色的广泛性不可避免的对VNA提出了各种各样的要求,随着三年前流行的PicoVNA106 6GHz仪器的发布,“更多就是更好”的呼声开始响起:“频率范围更广”、“端口功率和动态范围更大”、“速度更快”、“功能更强大”! 在所有这些方面,英国比克科技最新发布的PicoVNA108,同样是低成本、小尺寸和便携型,并没有让人失望。PicoVNA108可以达到更高的8.5GHz,动态范围可低至-124dB。PicoVNA 108为多个测量提供了新的“基于触发保存”的同步方式,此功能使得诸如在条件变化或多路测量路径的情况下进行测量结果的同步和对比变得更加方便。该新增加的功能加上已有的集成bias-Ts,将有助于加快批量测试和器件的特征描述。PicoVNA108还为四接收机架构添加了偏移频率功能,并支持从PicoVNA 3软件中同步和控制PicoSource AS108 8 GHz射频信号合成器。这种仪器合作关系允许使用PicoVNA 108进行射频混频器和射频/中频系统特性化测试。PicoVNA 108也支持与其它流行的第三方信号发生器进行配合。 PicoVNA 108具有惊人的高性价比,它是基于一个功能齐全、专业级别和广受尊重的、英国设计的测量引擎。PicoVNA 108可在190µs的时间内提供所有四个S参数,动态范围和精度都很高。这样高性价比的PicoVNAs为专业用户节省了大量的成本,小型企业和初创企业、课堂上的大量用户甚至一些业余用户都能负担得起。其价格可与传统的低成本单端口反射计甚至类似带宽的标量网络分析仪相媲美。“越多越好”和“成本越低”,只有PicoVNA。 PicoVNA支持两种标准校准模型:具有低成本但同样令人印象深刻的SMA和PC3.5校准标准和配套的测试引线,全部采用精密加工的不锈钢连接器。PicoVNA软件支持8或12项校准,包括“未知直通”方法。可以使用手动、自动探测参考面移动、归一化或基于测量得到的Touchstone文件来消除来自测试夹具的影响。标配快速傅立叶时域变换和阻抗变换。TDT/TDR曲线的系统上升时间低至58 ps,这些支持阻抗和故障距离读数可达100米。 关于英国比克科技(Pico Technology) 英国比克科技(Pico Technology)是高性能电子测试仪器的全球领先制造商。源于英国剑桥强大电子工程传统,自创立以来,通过创建和领导创新的基于PC的测试仪器,比克实现了连续28年的增长。其独特的解决方案和完整的产品线为电子工程师提供了高性能且经济高效的工具,涵盖了从物理层到协议层的整个设计验证周期: 具有内置AWG,FG,逻辑分析仪,频谱分析仪,串行协议分析仪的实时示波器,提供高达16位ADC分辨率,4G超深存储器,8个高分辨率通道和真正的差分探测。紧凑的25GHz采样示波器使工程师能够轻松实现TDR,眼图和时钟恢复。PicoVNA,Synthesizer和PicoConnect探头可扩展到RF应用。此外,还有最畅销的Pico Logger系列产品。 SDK允许用户与实现测试自动化的其他仪器一起开发自定义应用程序。终身免费软件和5年保修可保护客户的投资。

    时间:2020-09-18 关键词: 比克科技 矢量网络分析仪

  • 新品R&S®ZNA系列,你了解吗?

    新品R&S®ZNA系列,你了解吗?

    你知道新品R&S®ZNA系列吗?它有什么作用?罗德与施瓦茨公司推出R&S®ZNA系列产品 —— 具有卓越射频性能以及能显著简化测量设置的独到硬件设计特性的新一代高端矢量网络分析仪。R&S®ZNA极其出色的测量结果稳定性和超低的测量迹线噪声使用户能够完成最苛刻对有源和无源器件/模块进行测量的任务。凭借以被测器件(DUT)为中心、世界上首个完全用触摸屏进行控制与操作的创新设计,R&S ®ZNA矢量网络分析仪把测试的设置时间降低到了最短的程度。 2019年1月15日,慕尼黑——罗德与施瓦茨公司正式发布R&S®ZNA系列高端矢量网络分析仪——一个全新、功能强大的测量有源和无源器件的通用平台。首先发布的R&S®ZNA系列矢量网络分析仪有两个型号:R&S®ZNA26(10MHz到26.5GHz)和R&S®ZNA43(10MHz到43.5GHz)。在1 kHz中频带宽的设置条件下,R&S®ZNA的测量动态范围可高达146 dB(典型值),迹线噪声可低至0.001 dB,这两个出色的性能指标是测量高抑制比滤波器必不可少的。借助R&S®ZNA独有的硬件设计特性,用户可以比以往快两倍的速度完成混频器的测量;在测量放大器方面,100 dB的功率扫描范围、每个端口上内置的脉冲源和脉冲调制器、灵活的交调失真测量方法、以及频谱分析等功能让测量任务变得更加容易。 独具硬件特色的4个内置激励源和2个内置本振源 R&S®ZNA有4个内置的相位相参的激励源、8个结构高度一致可同时进行测量的接收机、2个本振信号源。这些独具特色的硬件设计让用户在测量变频器、放大器、甚至是复杂的TR组件时都能享受该仪表设置时简单方便所带来的好处,用户只要把被测器件与R&S®ZNA连接一次即可完成对上述器件的测量工作。尤其是,与过去的方法相比,在测量变频器件时,用户不需要使用参考混频器就可在过去一半的时间内完成经过矢量校准的变频损耗、插入相位、群延时等的测量工作。 以被测器件为中心的操作方法带给用户最佳的使用体验 R&S®ZNA提供独特的以被测器件为中心的操作方法,这极大地简化了在测量过程中对仪表进行设置的步骤。在测量人员选择了被测器件的类型(例如混频器或放大器)之后,R&S®ZNA就会一步一步地引导其完成所有测试所需的设置步骤,这样的操作方式有助于极大地加快测量开始之前对仪表进行设置的过程。除此之外,用户也可以用其过去习惯的操作方法按自己的想法设置测试的过程,这为用户在使用仪表时提供了高度的灵活性,使其能够顺利完成哪怕是最困难的测量任务。 用更具现代感的触摸屏代替传统的操作按键 R&S®ZNA是全球首个完全以触摸屏的方式进行操作的矢量网络分析仪,除了12.1英寸的主显示屏是触摸屏之外,还用一个7英寸的触摸屏代替了过去由按键和转轮组成的控制面板。这第二块触摸屏结再加上创新的以被测器件为中心的操作方法将带给用户完美的使用体验。以上就是新品R&S®ZNA系列解析,希望能给大家帮助。

    时间:2020-06-15 关键词: zna 罗德与施瓦茨 矢量网络分析仪

  • 100kHz到40GHz多端口VNA,你了解吗?

    100kHz到40GHz多端口VNA,你了解吗?

    什么是100kHz到40GHz多端口VNA?它有什么作用?罗德与施瓦茨公司新推出的R&S®ZNBT40是业内第一款能在100kHz到40GHz频率范围内配置多达24个测量端口的矢量网络分析仪(VNA),产品开发人员可以用它测量像5G阵列天线这样的多端口器件。R&S®ZNBT40的多端口结构不仅适合于测量多端口器件,还能在生产线上同时测量多个被测器件(DUT),帮助用户提高生产效率。罗德与施瓦茨公司确保R&S®ZNBT40的所有24个端口都达到所标定的性能指标,与R&S®ZNBT40同时推出的还有R&S®ZNBT26,这是ZNBT产品系列中测量频率为26.5 GHz 的型号。 2019年1月31日——慕尼黑,现在有源器件和无源器件的生产厂家可以用R&S ®ZNBT40矢量网络分析仪测量各种类型的多天线通信系统(MIMO, ISO, MISO),由于其测量频率范围高达40GHz,R&S®ZNBT40 除了非常适合于测量5G NR前端模块的应用之外,军用雷达系统、天线阵列、波束赋型芯片等也均在其应用范围之内。它既可以一次连接测量有24个端口的DUT,也可同时对多个DUT测量。 在扩展应用方面,R&S®ZNBT是目前市场上独有的测量频率低于300 kHz的多端口矢量网络分析仪,这使它成为验证测试诸如USB-C的各种数字线缆是否满足质量规范要求的理想测量仪器。 R&S®ZNBT也可用于信号完整性方面的测试,如测量信号传输线之间的串扰、信号线长度的偏差、对电缆故障点进行定位等。当在开发、维修产品的过程中需要进行测试的时候,R&S®ZNBT40是理想的选择,这尤其体现在生产测试环境,因为同时对24个端口进行测量可以为用户节约大量的时间和成本。 确保所有测量端口的指标参数 因为罗德与施瓦茨公司保证R&S®ZNBT的所有测量端口的性能均能达到标定的技术指标,所以除了测量多端口器件的S参数之外,它还可以同时测量24路信号的相位信息。另外,由于R&S®ZNBT未经校准的射频指标也极为优异,用户完全可以信赖其测量结果的长期稳定性。 R&S®ZNBT40 和R&S®ZNBT26是广为市场认可的R&S ZNBT多端口矢量网络分析仪系列产品的新增型号。在此之前,R&S®ZNBT系列已经有R&S®ZNBT8 (9 kHz 到8.5 GHz) 和 R&S®ZNBT20(100 kHz到20 GHz)两个型号。所有频段的R&S®ZNBT最多都可配置24个测量端口。现在用户已经可以从罗德与施瓦茨公司购买全新的R&S®ZNBT26和ZNBT40多端口矢量网络分析仪。以上就是100kHz到40GHz多端口VNA解析,希望能给大家帮助。

    时间:2020-06-15 关键词: rs znbt40 矢量网络分析仪

  • 3.2GHz型号加入!鼎阳SVA1000X频谱&矢量网络分析仪家族再添新成员

    3.2GHz型号加入!鼎阳SVA1000X频谱&矢量网络分析仪家族再添新成员

    近日,深圳市鼎阳科技有限公司(SIGLENT)宣布在此前发布的频谱&矢量网络分析一体机SVA1000X系列基础上,再添3.2GHz型号SVA1032X,频谱仪频率范围扩展为9 k-3.2GHz,矢量网络分析仪频率范围扩展为100k-3.2GHz。 鼎阳科技SSA3000X系列频谱分析仪面世以来,迅速横扫全球,成为业界最受欢迎的经济型频谱分析仪。SVA1015X发布一年多来,丰富而优秀的功能和性价比使其屡获大单,销量再创新高。 SVA1032X对基于SVA1015X的所有功能模式进行了全面优化升级,频率范围扩展至3.2GHz,标配VNA并且起始频率低至100kHz,扩展MSK/PSK/QAM等调制分析功能,具备更优的测试指标,更全的功能设计,更好的操控体验。 矢量网络分析 SVA1032X内置跟踪源和反射电桥,能够同时扫描幅度和相位,可测S11、S21参数,其频段覆盖 100 kHz-3.2 GHz,适用于天线和射频电路测量,并具备史密斯圆图、对数坐标等多种显示类型。 丰富的数字调制分析 SVA1032X具备丰富的信号调制分析功能(AM/FM/ASK/FSK/PSK/MSK/QAM)。在原有的AM/FM/ASK/FSK的基础上,SVA1032X新增了MSK/PSK/QAM方式。分析结果可以星座图、眼图、矢量图等显示呈现,多维度分析结果,快速定位调制问题。 EMI预兼容测试 SVA1032X具备遵循CISPR 标准的EMI滤波器和准峰值检波器,支持EMI测试,使产品研发设计的各个阶段中都可以尽早发现并解决各个级别的电磁兼容问题,提升产品的工程质量,避免耗时耗力的返工整改。 高级功率测量选件 SVA1032X支持测试信号邻道功率比、占用带宽等,并可通过瀑布图监测频率变化的输入信号,用色温反映其幅度大小(即功率大小),助力用户全方位分析待测信号。 电缆和天线测量 该功能主要用于天线和电缆的性能验证和故障分析。支持3.2G带宽的电缆故障点时域测量,利用DTF(Distance to Default)功能,可以精确测量各种电缆和天线参数,并迅速识别连接不良,线缆损坏或故障并定位其位置,定位精度可达5cm,定位长度可达几千米。屏幕数据一目了然,使得用户能够快速准确找到故障点。 机械校准套件,VNA精准测量的前提 此外,SVA1015X选配SLOT校准套件(型号为F503ME),具备校准时效性长,精度高等优良特性,可有效校准系统误差和漂移误差。 用一台SVA1032X频谱&矢量网络分析仪,可以实现频谱分析、矢量网络分析、调制分析、EMI测试、线缆及天线测试等功能,彻底摆脱桌子上堆满各种分立仪器所带来的困扰。鼎阳科技专业专注于通用电子测试测量仪器及相关解决方案,将持续为您提供最有价值的通用测试测量仪器!

    时间:2019-06-12 关键词: 频谱分析仪 鼎阳 sva1000x 矢量网络分析仪

  • 罗德与施瓦茨发布高端矢量网络分析仪,全触摸屏搭配卓越射频性能

    信号源、频谱仪和矢量网络分析仪是通信测试的三驾马车,作为移动和无线通信测试领域的领导厂商,罗德与施瓦茨三个都要兼顾。 前不久,罗德与施瓦茨公司发布了R&S® ZNA系列高端矢量网络分析仪,这是一个全新的、功能强大的测量有源和无源器件的通用平台。在刚刚召开的EDI CON 2019大会上,罗德与施瓦茨中国区矢量网络分析仪产品经理张念民先生详细介绍了这款产品。 新推出的R&S®ZNA系列矢量网络分析仪有两个型号:R&S®ZNA26(10MHz到26.5GHz)和R&S®ZNA43(10MHz到43.5GHz)。两个频段产品的配置可以让用户根据自身的需求按需选取,做到成本上的不浪费。据张念民先生透露,未来还将推出50GHz和67GHz的产品,以满足未来的测试需求。 动态范围是矢量网络分析仪的一个关键指标,只有具有高动态范围才能实现精准的测量。在1 kHz中频带宽的设置条件下,R&S®ZNA的测量动态范围可高达146 dB(典型值),迹线噪声可低至0.001 dB,这两个出色的性能指标是测量高抑制比滤波器必不可少的。借助R&S®ZNA独有的硬件设计特性,用户可以比以往快两倍的速度完成混频器的测量;在测量放大器方面,100 dB的功率扫描范围、每个端口上内置的脉冲源和脉冲调制器、灵活的交调失真测量方法、以及频谱分析等功能让测量任务变得更加容易。 独具硬件特色的4个内置激励源和2个内置本振源 R&S®ZNA有4个内置的相位相参的激励源、8个结构高度一致可同时进行测量的接收机、2个本振信号源。这些独具特色的硬件设计让用户在测量变频器、放大器、甚至是复杂的TR组件时都能享受该仪表设置时简单方便所带来的好处,用户只要把被测器件与R&S®ZNA连接一次即可完成对上述器件的测量工作。尤其是,与过去的方法相比,在测量变频器件时,用户不需要使用参考混频器就可在过去一半的时间内完成经过矢量校准的变频损耗、插入相位、群延时等的测量工作。 全触摸屏代替传统的操作按键 从外观上看,这款矢量网络分析仪与以往产品最大的不同就是采用了全触摸屏显示屏。R&S®ZNA是全球首个完全以触摸屏的方式进行操作的矢量网络分析仪,除了12.1英寸的主显示屏是触摸屏之外,还用一个7英寸的触摸屏代替了过去由按键和转轮组成的控制面板。这一点对于伴随着触摸屏手机成长起来的新一代工程师,可谓用起来更加得心应手。 以被测器件为中心的操作方法大大简化测量步骤 R&S®ZNA提供独特的以被测器件为中心的操作方法,这极大地简化了在测量过程中对仪表进行设置的步骤。在测量人员选择了被测器件的类型(例如混频器或放大器)之后,R&S®ZNA就会一步一步地引导其完成所有测试所需的设置步骤,这样的操作方式有助于极大地加快测量开始之前对仪表进行设置的过程。除此之外,用户也可以用其过去习惯的操作方法按自己的想法设置测试的过程,这为用户在使用仪表时提供了高度的灵活性,使其能够顺利完成哪怕是最困难的测量任务。 展会现场,罗德与施瓦茨全球应用专家Thilo Bednorz先生演示了R&S®ZNA系列矢量网络分析仪的强大功能和创新性能,以被测器件为中心的操作方法加上全触摸屏的设计,流畅快捷的测试体验给现场的观众留下了深刻印象。特别是,当现场有听众提出以往的矢量网络分析仪在使用中需要多次校准时,Thilo Bednorz先生表示,R&S®ZNA的先进的软硬件设计可以免除多次校准的麻烦,给工程师更准确的测试结果。 R&S®ZNA适合应用于军工电子器件研发、雷达测试、卫星测试、无线通信测试以及科研机构与高校等广泛领域中。

    时间:2019-04-09 关键词: 测试测量 技术专访 罗德与施瓦茨 矢量网络分析仪

  • 罗德与施瓦茨公司推出100 kHz到40 GHz多端口VNA

    罗德与施瓦茨公司新推出的R&S®ZNBT40是业内第一款能在100 kHz 到 40 GHz频率范围内配置多达24个测量端口的矢量网络分析仪(VNA),产品开发人员可以用它测量像5G阵列天线这样的多端口器件。R&S®ZNBT40的多端口结构不仅适合于测量多端口器件,还能在生产线上同时测量多个被测器件(DUT),帮助用户提高生产效率。罗德与施瓦茨公司确保R&S®ZNBT40的所有24个端口都达到所标定的性能指标,与R&S®ZNBT40同时推出的还有R&S®ZNBT26,这是ZNBT产品系列中测量频率为26.5 GHz的型号。 现在有源器件和无源器件的生产厂家可以用R&S ®ZNBT40矢量网络分析仪测量各种类型的多天线通信系统(MIMO, ISO, MISO),由于其测量频率范围高达40GHz,R&S®ZNBT40 除了非常适合于测量5G NR前端模块的应用之外,军用雷达系统、天线阵列、波束赋型芯片等也均在其应用范围之内。它既可以一次连接测量有24个端口的DUT,也可同时对多个DUT测量。 在扩展应用方面,R&S®ZNBT是目前市场上独有的测量频率低于300 kHz的多端口矢量网络分析仪,这使它成为验证测试诸如USB-C的各种数字线缆是否满足质量规范要求的理想测量仪器。 R&S®ZNBT也可用于信号完整性方面的测试,如测量信号传输线之间的串扰、信号线长度的偏差、对电缆故障点进行定位等。当在开发、维修产品的过程中需要进行测试的时候,R&S®ZNBT40是理想的选择,这尤其体现在生产测试环境,因为同时对24个端口进行测量可以为用户节约大量的时间和成本。 确保所有测量端口的指标参数 因为罗德与施瓦茨公司保证R&S®ZNBT的所有测量端口的性能均能达到标定的技术指标,所以除了测量多端口器件的S参数之外,它还可以同时测量24路信号的相位信息。另外,由于R&S®ZNBT未经校准的射频指标也极为优异,用户完全可以信赖其测量结果的长期稳定性。 R&S®ZNBT40 和R&S®ZNBT26是广为市场认可的R&S ZNBT多端口矢量网络分析仪系列产品的新增型号。在此之前,R&S®ZNBT系列已经有R&S®ZNBT8 (9 kHz 到8.5 GHz)和 R&S®ZNBT20(100 kHz到20 GHz)两个型号。所有频段的R&S®ZNBT最多都可配置24个测量端口。

    时间:2019-02-21 关键词: 5g阵列天线 罗德与施瓦茨 矢量网络分析仪

  • 高端矢量网络分析仪-R&S ZVA110

    R&S ZVA110 是一款高端矢量网络分析仪,它 覆盖从10 MHz到110 GHz整个频率范围。其极宽的动态范围,极高的功率输出与极快的测量速度,是各类毫米波有源和无源器件测量的理想之选。罗德与施瓦茨公司的毫米波变频器更使R&S ZVA110可以应用于超过110 GHz的频率范围,达到500 GHz。另外R&S ZVA110还具有变频特性下的脉冲测量功能。  R&S ZVA110可以在10 MHz到110 GHz的连续频率范围内进行两端口特性的测量。该矢量网络分析仪是诸如以下应用的理想之选:车载雷达和汽车辅助泊车系统(77 GHz),通用雷达应用(如,94 GHz)或者高速点对点通信系统(79/80 GHz)等。从事毫米波频段(如,毫米波成像等)的研究或研发的工程师也将受益于R&S ZVA110出色的性能。  基于四端口矢量网络分析仪 R&S ZVA67(其测量频率范围高达67 GHz),再结合两个具有电子功率控制功能的变频模块,从而使R&S ZVA110覆盖10 MHz~110 GHz的频率范围。  变频模块中的电子衰减器使ZVA110即使在70 GHz以上的频率,也可以轻松完成功率校准和功率扫描,以及放大器压缩点等测量。取决于应用的不同,被测件可通过1 mm波导接口或直接通过晶圆探针进行连接。 基本单元R&S ZVA67具有4个测量端口,内部4个独立激励源,8个测量接收机。这样的结构为多端口的放大器,混频器和平衡器件的测试提供了更多的便利。 R&S ZVA110也可以以极高的分辨率测量极窄的脉冲信号(12.5ns,脉冲波形测模式)。

    时间:2018-11-20 关键词: s r zva110 矢量网络分析仪

  • 矢量网络分析仪的校准技术

    50 年代后期,开始出现了对射频和微波频段的可靠的测量以及随之而来的有关可靠测量标准的要求。这便引入了用精确的同轴空气传输线作为阻抗的最基本的标准参考件[ 1 ] ,[ 2 ] ;见图1 。这些传输线使用了具有极高导电性的金属来作为导体材料,使用空气作为电介质,这归因于空气在射频和微波频段内简单的和可预测的电磁特性(例如,磁导率和介电常数)[ 3 ] 。这便保证了这些传输线的特性与理想传输线的特性是非常接近的[4 ]。图1 一个具有不同长度的高精度参考同轴空气传输线的例子。同样在50 年代末期和整个60 年代,人们做了大量的工作来开发高精度同轴连接器以保证在微波频段所进行的测量具有很好的重复性和可再现性[ 5 ] [ 6 ] 。为了集中精力进行这项工作,便成立了若干个委员会(包括符合IEEE 高精度同轴连接器子委员会[ 7 ] ),任务是为这些高精度连接器制定标准。在60 年代后期,具有高精度测量能力的第一台全自动矢量网络分析仪(VNA)终于问世了(见[ 8 ][ 9 ] )。接下来这个阶段则设定为要开始采用可靠的技术来确保VNA 的测量工作(图2 )。图2 基于Agilent 8510 型VNA 基础上的同轴毫米波测量台。多年来,这台分析仪一直是微波测量工业的参考。然而,在70 年代,80 年代和90 年代所进行的其它关键性的开发工作则大大地改善了VNA 的测量条件。这些工作包括引入了:• 较小尺寸的高精度同轴连接器(从3.5mm 连接器开始[10],到1mm连接器结束[11]),使得测量可以在更宽的频段内进行• 适用于校准和/或验证VNA 性能的VNA 校准和验证工具套件• 可靠的VNA 校准技术[包括直通-反射-线段(T R L)[ 1 2 ],线段-反射-线段(L RL )[13 ] ,等等]• 由国家测量标准实验室所采用的6-端口VNA [14][ 例如美国的国家标准和技术研究院局(NIST)和英国的国家物理实验室(NPL)等]来提供一种独立的测量方法以验证商业化的VNA 的性能。最后,同样是在80 年代末和90 年代初,为了支持迅速发展的微电子工业,国家测量标准实验室(即NIST 和NPL 等)开始将它们的注意力转向了使用VNA 对平面电路进行测量的可靠性的论证。NIST 和NPL 均生产制造了含有与同轴空气传输线等效的平面电路的标准圆芯片[15],[16] – 即高精度的共面波导段和/或微带传输线。这些传输线为进行在片测量的VNA 的校准提供了参考标准。以上所有这些工作极大地改善了VNA 用户和专业人员的测量条件。除此之外,工业界,学术界和政府实验室的测量专家们还做了大量的工作,为VNA 的测量制定了可追溯性和其它质量保证方面的机理。一、系统测量误差什么是校准和误差修正?校准被定义为“在特定条件下进行一套操作以建立起由测量仪器或测量系统所显示的数值,或被测材料或参考材料所代表的数值,与其对应的标准值之间的关系”[ 17 ] 。因此,从传统意义上讲,校准是把仪器或组件定期送到标准和/或校准实验室,在那儿完成校准过程。这个校准过程的结果是通常会出具一份关于仪器已被校准过的证书,该证书证明了仪器或组件的现有状态。然而,对于VNA 来说,校准这个词至少有两种不同的意义。首先,仍然可以采用传统的校准概念,将VNA 送出去校准,通常是每年一次。(或者,有些公司会指派校准专家前来,提供现场校准服务。)然而,与本文更贴切的是另一种在本地进行的校准方式,通常是在每次要进行一系列测量之前,在进行仪器准备和配置时进行的校准。第二种校准形式的目的是在要求的测量频率上去除来自于仪器硬件的系统误差(并且要将在特定的实验中所需加入的附件考虑进来)。例如,可能会要求是在片测量环境。在这种情况下,首先要将电缆连接到VNA 前面板的连接器上,随后是同轴适配器,最后是在片测试探头(图3 )。第二种校准形式既要修正这些附加组件的误差,也要修正VNA 系统误差。这便是为什么将这类校准称为误差修正,本文将要讨论这种类型的校准。图3 (a)最先进的300-mm 射频和微波在片测量系统。系统包括:EMI-屏蔽和防光自动探头系统,还集成有散热处理和自动射频校准,一台VNA,射频电缆和射频圆芯片探头。(b)用于系统校准的一套共面校准标准件(一个校准基片)。日益提高的VNA 测量精度的要求可以通过下列几个方面来达到,改善硬件性能,改进用来表示误差的模型,改进用于计算这些误差的校准方法,以及改进校准标准件。对于S -参数测量来说,系统误差是通过被称为测量系统(即VNA)的误差模型来表示的。在误差模型中所包含的误差系数的数量以及误差模型的类型取决于• VNA 的硬件拓扑结构• VNA 的端口数和测量接收机的数量• 所要求的测量精度下一节将要介绍常用的S-参数系统测量的误差模型。S-参数的流程图表示法第一批用于自动S-参数误差修正的误差模型是在60 年代末出现的。它们考虑了双向二端口系统,定义了系统的不完美性对反射系数(,)和传输系数(,)测量的影响。这些模型是通过采用假想的二端口误差网络而开发出来的,用来代表系统误差。它们由硫参数来描述,并且被包含在测量信号的路径中[ 8 ] 。一个反射(一端口)测量的误差模型仅仅包含一个误差网络。最初,这个网络是由含有4 个S-参数的矩阵来表示的。然而,后来发现只需要,和乘积来进行进一步的误差修正。因此,可用3 项误差模型来代替包含有4 个S-参数的矩阵,其中系数,,分别代表了(定向性),(源匹配),和(反射跟踪)(图4)[18]。今天,3 项误差模型仍然是一端口网络标准和修正过程中最常用的表示方法。图4 一端口3 项误差模型的(a)S-参数和(b)误差项表达。根据上面所述,8 项误差模型是对两端口被测器件(DUT)(图5)进行自动测量的双向系统。基于S -参数的模型[图5(a)] 需要知道每个误差适配器的4 个参数(,,,)。对于传输测量的误差修正包括两个分别代表正向和反向的因子和[8]。这些因子在误差项中是用系数来表示的[图5(b)] [19]。图5 一台二端口VNA 的8 项误差模型的(a)S-参数和(b)误差项表达。未知的DUT[S] 是在误差适配器之间相连的。单撇和双撇参数分别对应的是正向和反向的测量方向。另外一种单向测量结构中没有包含可将入射测量信号在两个测量端口进行重新定向的内置开关。它们只能允许对DUT 进行一个方向的表征(只有,参数)。正如在[18]中所介绍的,这样一个系统只需要5 个误差项。这便需要另外一个代表测量端口之间信号泄漏的误差项,从而将模型扩展到6 个参数(见图6)。图6 5-项单向误差模型,由误差系数,,,,来表示。泄露项EX 是选择项参数。泄露项(同样可称为串音项)随后被加到8项误差模型中,在每一个测量方向上加一个,则将通用的误差系数增加到10 个[21]。8(10)项和5(6)项误差模型已经使用了近十年而未进行大的改动。[注意在这里及本文的其它地方,括号中的数字代表将泄漏项(Ex)加入后的误差项数。这些都是选择项,可能并不完全代表串音(正如在本文中进一步讨论的),因此我们未将它们加入到专业术语中。]在任何一个模型中,都要在每个测量频率上定义误差项的值,并将其存入到VNA 内存中。因此,对误差模型的扩展,包括使用附加的误差项,为不同的测量开发出一个统一的模型,从商业角度上讲还不是一个可行的选择。(在那个时候,计算器内存的成本仍然是一个主要的设计考虑因素。)70 年代末,半导体技术的快速发展极大地提高了低成本读/写存储组件以及镶嵌在测量仪器中的大容量存储设备的供货量。这便极大地增强了VNA 的误差建模能力。测量系统被统一了,与测量配置相独立的10(12)项模型被引入到商业化的VNA 中[19](见图7)。这个误差模型成为二端口VNA 描述系统误差的标准模型。这个模型已被实施在所有现代化的测量仪器中。图7 二端口双向S-参数测量的10(12)-项误差模型。误差系数E 代表由理想VNA 接收机在DUT 平面所测得的波,m,与入射波,a,和传输波/反射波,b 之间的关系。单撇和双撇分别代表正向和反向的测量方向。[19] 和[22] 给出了描述二端口DUT S-参数的测量值和实际值之间关系的方程式。然而,这些公式多少有些笨重。[23]中介绍了一种简化的方法。对于测量系统,描述DUT 中被测波,m,和入射波,a, 以及反射波/传输波,b,的关系可以通过使用散射系统定义来获得:从式(1)和图7 中,可得出DUT 中的入射波,,反射波,和传输波,为当考虑到开关在另一个位置时,参数,,,可以用同样的方式得到。一旦波参数a ,b 确定了,便可得到下列矩阵:或简写为,最后,DUT 的S-参数可以通过下式来得到二、级联矩阵的T-参数表达式上面所讲述的和图8 所示的10 项模型是通过有效S-参数来代表系统的测量误差的。1975 年,Tektronix 公司的工程师们介绍引入了一个不同的概念[24]。他们建议用误差传输参数(T)表示的两个黑盒来描述二端口的系统测量误差(图9)。他们的模型有8 个误差项。然而,正如随后在[12]和[25]中所示,仅需7 个误差项来进行进一步的修正。为了将这种方式与老的基于S-参数的8-项误差模型相区别[8],通常称之为7-项模型。图8 由10-项误差描述的二端口VNA 在开关的第一个状态和第二个状态时的方框图。图9 由级联矩阵表示的二端口VNA 的方框图(7-项误差模型)。三、VNA测量接收机的影响通常会将10-项模型与VNA 参考信道的硬件概念相联系。在VNA 的参考通道中,有一个参考接收机来检测入射信号,还有几个接收机,每个VNA 端口都有一个测量接收机。因此,对于n-端口的系统,接收机的总数是K,K = n+1,其中n 是测量端口数(图10)。图10 基于参考信道结构的VNA 的方框图。显示出了用于入射信号m1 和m3 的一个参考接收机,信号源开关,信号m2 和m4 的测量接收机,和10-项误差模型矩阵[E]和[F]。7-项误差模型的实施要求VNA 在被称为双反射计的原理上制造的:每个测量端口与各自的参考接收机和测量接收机相连。例如,二端口双-反射计VNA 使用4个测量接收机(图11)。一般来说,多端口双-反射计的测量接收机的数目为k,k=2n,其中n 是系统的测量端口数。图11 基于双-反射计结构的VNA 的方框图。显示出参考接收机,m1,m3;信号源处的开关;测量接收机,m2 和m4;以及7-项误差模型矩阵[A]和[B]。图11 是一个4-接收机VNA 系统误差的物理模型,[Tx]是被测DUT,[A]和[B]是误差黑盒。后者描述了测量系统的误差,m1…m4 的值代表了理想接收机的测量波。可以将m1…m4 与入射波(a1,a2)和反射波或传输波(b1,b2)的关系直接表达出来,为:其中:m1’… m4’和m1“… m4”分别是正向和反向的测量值。T11… T22 定义为被测DUT 的传输参数。用另一种简单的形式来表示,其中,测量矩阵M是最后,DUT 的T-参数由下式给出四、误差模型的转换7-项误差模型和10-项误差模型均可用来描述双-反射计VNA。如果需要的话,7-项误差模型可以转换为10-项误差模型。已经发表了几种具有不同转换公式的方法[22],[26] - [28]。这些公式略有不同,但都是基于相同的物理基础之上的。差别来源于作者对7-项误差模型的标示方法,例如,采用了[B]的逆矩阵。今天,这些转换技术已经在许多双-反射计VNA 中付诸实施了。同样试图对参考接收机类型的VNA 也使用7-项误差模型[29]。事实上,这里是假设测量装置的源匹配与负载匹配相同,而这种情况只有当测量装置的开关是理想状态时才能成立。对于一个实际的系统来说,这种假设会导致出现不能容忍的测量不准确性,特别是对具有高反射性的DUT 来说[30]。只有10-项模型才能保证对参考接收机型VNA 的完整描述。五、多端口测量和信号的泄漏问题正如上面所提到的,甚至在VNA 的第一个误差模型中已经包含了特殊误差项,是用来描述一个系统测量端口对另一个端口的影响(即,泄漏项,Ex)。泄漏可以简单地定义为匹配完美的VNA 端口之间的传输系数。这种定义只适合那些具有与系统阻抗相同的输入和输出阻抗的DUT 的测量情况。当测量其它器件时,这种泄漏项的定义方式会降低测量的准确性。进一步的测量实验和实际经验表明泄漏的本质是非常复杂的。一般来说,仅用一个或两个误差项还不足以正确表达这种现象。很明显,需要另一种系统测量误差的表达方法。这个概念是1977 年由Special 和Franzen 提出的[31]。n-端口VNA 的系统测量误差是由一个2n-端口的虚拟误差网络来表示的,它的一个n-端口与DUT 相连,另一个n-端口与理想的没有误差的VNA 相连。误差网络含有(2n)2 个系数,并且描述了所有测量端口之间可能的影响。事实上,一个误差项可以设为自变量,误差模型便可以用这一项来进行归一化。即,只有4n2-1 个系数之间是线性地相互独立的。这样,这些误差项便可以完全描述这样一个系统[32]。4n2-1 模型只适用于建立在双-反射计概念上的VNA(有2 n 个测量接收机,图12)。然而,后来才证明参考通道VNA(有n+1 个参考接收机)的完整的误差模型也同样可以建立(图13)。这包含进了更多的误差项:例如,对一个二端口VNA 有22 个系数,而对于二端口双-反射计VNA 则只有15 个系数[33]。图12 基于双-反射计结构的含有泄漏的VNA 的方框图。对二端口系统来说,矩阵[C]含有15 个误差系数。图13 基于参考信道结构的含有泄漏的VNA 的方框图。对二端口系统来说,矩阵[C]含有22 个误差系数。包含串音的误差模型可以采用更通用的形式来描述测量系统。通过将串音误差系数设为零,它们可以转化为等效的,无串音的模型。这样,22-项模型(对于一个n+1 测量接收机VNA 来说)可简化为一个(2n2+ n)的无串音模型(即,二端口10-项模型)。在2n 个测量接收机VNA(4n2-1 项模型)中忽略串音的影响,则给出了(4n-1)-项误差模型(对两端口网络来说即为7-项误差模型)。六、部分泄漏模型对于某些应用来说,多端口系统不同测量端口之间的泄漏是不同的。例如,采用双在片测量探头的(每个探头为二端口)的多端口在片级测量系统显示出在内侧(输入探头)端口之间的串音很强,而探头对探头之间的影响要小得多。针对这种情况,仅在那些对测量结果影响最大的系统模型中引入串音系数则是一个可行的方案。[34] 中介绍了对于4 端口测量系统的解决方案。在这种情况下,误差网络被分为两部分。每部分只包含内侧端口(例如,网络[C1]是对端口1 和2 的,另一个分开的网络[C2]是针对端口3 和4 的,见图14 所示)。这种方案因为将误差项从4n2-1 减少到2n2-1 而大大简化了对测量系统的表达,其中n 是VNA 的端口数。这样,当描述一个4 端口VNA 时,只需要31 个误差系数(对于部分泄漏模型),而不是63 个误差系数(对于完全泄漏模型)。图14 基于双-反射计结构的VNA,允许端口1 与2,及端口3 与4 之间存在泄漏。误差模型一经确定,便可藉助于校准过程来计算误差系数。在矢量网络分析仪发展的40 年历史中,已经开发了多种多样的校准方法。其中有些变成了事实上的标准方法,而其它的仅仅是改善S-参数测量精度的中间步骤。七、校准过程第一个迭代解决方案早期的VNA 校准是一个冗长而繁重的过程。那个时候还没有现成的计算误差和对测量的S-参数进行修正的直接计算方法。工程师们被迫依赖于众多不同的数字和迭代方法来进行计算,例如,见参考文献[8]。第一个显示解方案1971 年,kruppa 和Sodomsky 取得了重大突破[35]。第一个由8-项误差模型来明确地描述二端口VNA 的校准解决方案问世了。这个方案在每个VNA 端口上使用了三个反射标准件(开路,短路,和终端匹配)以及将两端口直接相连的标准件(直通)。通过在每个VNA 端口对开路,短路和负载的测量数据,可以定义每个端口的三个误差项S11,S22,和S12S21 (ED, Es,ER)。T21和T12 项是通过使用直通标准件分别进行正向传输和反向传输测量而计算出来的(如图5 所示)。他们的工作同样介绍了简单的公式来对DUT 的4个S-参数系统测量误差直接进行修正。这样,便解决了为得到误差项和修正S-参数所需进行的冗长重复的数字计算问题。针对不同的测量装置配置(误差模型),对这种显示解方法进行了进一步的改进[20] ,[21] ,最后,Hewlett-Packard 于1978 年将这个10-项误差的显示解校准方案商业化了。从那时起,这种校准过程深受欢迎,被命名为短路-开路-负载-直通(SOLT)或直通-短路-开路-匹配(TOSM)。今天,所有现代化的VNA 都实施了这种非常行之有效的SOLT 校准技术。SOLT 方法的精度关键取决于校准标准件的制造和建模的容许偏差(即集总参数的开路,短路和负载组件)。因为这些标准件的精度随着频率的升高而劣化,所以,要在高频下实现可靠测量仍然是一个挑战。其它的程序,如改善校准标准的模型(即,[36],[37])或使用参考校准的原始校准标准件[38],可以提高SOLT 方法的精度。自校准-TRL法Engen 和Hoer 于1974 年提出的TRL 校准法(另一种变形是LRL)使VNA 校准理论的发展又上了一个新的台阶[12] 。这是首次出现的不要求所有标准件或者是理想的,或者其所有参数都完全已知的校准方法。通过使用测量结果的冗余性(这是双-反射计VNA 和7-项误差模型的优点),TRL 可以确定原始校准标准件的未知参数,如反射标准件的反射系数和线段标准件的传输常数。这种使用部分已知标准件来对VNA 进行校准的新原理后来被称为自校准。TRL 技术的另一个优点是通过使用定义明确的空气隔离线段的标准件使得实现真正的校准和测量的可追溯性成为可能。然而,TRL 会受到频率的限制。这个限制可以通过加入另外的线段标准件,并且对冗余测量信息进行统计分析来得到克服(与之类似的统计手段如,加权最小平方[39]和广义距离回归(generalized distance registration)[40]已被用于一端口VNA 的校准中,大大改善了整体测量精度),使得TRL 成为高精度测量的基准[41]-[43]。自校准的进一步开发在TRL 自校准方法问世后,又开发了其它不同的自校准方法。从双-反射计VNA 和它的7-项误差模型中所获得的冗余测量信息给予了一些校准的自由度:一个或多个标准件的一部分参数可以是未知的。这个很有用的特性可以帮助确定新的校准方法并且可以根据不同的应用来进行优化。例如,图9 所示的矩阵[A]和[B]的计算可以通过测量3 个不同的二端口标准件N1,N2 和N3 来获取,而无需测量式(7)中的DUT[T] 矩阵只需从(9)中的12 个等式中解出7 个未知量的值,便可以对系统进行完整的表征[如式(6)]。这种冗余性对标准校准件提出了一般性的要求(见表1),并且有可能推导出许多不同的校准方法[25],[44]-[46]。自校准方法以两种形式来处理反射标准件和传输标准件:• 对一个已知参量进行一次测量(例如,标准件的反射系数可确定一个误差项)• 对未知参量在不同条件下进行两次测量(例如,在VNA 的两个端口对同样的一端口标准件的反射系数进行测量)可以确定一个误差项。八、自校准方法比较自校准方法要求确定7 个误差项。在一般情况下,这可通过将已知和部分已知的标准件进行任意组合来得到(图15)。今天,TRL,线段-反射-匹配(LRM)[也称为直通- 反射- 匹配(TRM )或直通- 匹配- 反射(TMR)],短路-开路-负载-互易二端口网络(SOLR),快速-短路-开路-负载-直通(QSOLT),以及线段-反射-反射-匹配(LRRM)是最常用的覆盖了非常广泛的各种应用的自校准方法。图15 已经商业化了的(CSR)的共面校准标准件:(a)一对短路端,(b)一对开路端,(c)一对负载端,(d)双列内通-直通线,(e)双-回环直通线,和(f)-(g)跨线直通线。这些标准件用于最常见的圆芯片极的校准过程。传统的和改进的LRM法LRM 法[47]是为解决传统TRL 中的带宽限制问题而开发的。它采用了两个一端口匹配(负载)组件来代替线段标准件(或一套不同的传输线)。从理论上说,LRM 可以被认为是一种宽带校准方法。然而,商业化的LRM只有在使用纯粹阻型,高对称性的50Ω 负载时才能达到好的校准精度。这种要求是很难达到的,特别是在圆芯片的在片测量中。另一些更进一步的改进方案-类似于NIST [48] 的LRM 法和线段-反射-匹配,以及高级(LRM+)[49] 均是为了解决传统LRM 的这个主要缺点的。SOLRSOLR 法不要求知道直通标准件的所有信息[50] 。事实上,任何一个能提供对称(正向/反向)传输系数(互易)的无源二端口组件均可用于校准过程。SOLR 对于那些难以使用直通组件的测量装置是很有帮助的:例如,在同轴式应用中,当测量端口是相同性别时,或者当在圆芯片级别上采用的是矩形端口时。SOLR 法的精度从根本上取决于一端口标准件(开路,短路,负载),这些标准件要么是理想的,要么其特性是完全已知的。QSOLT与SOLT 一样,QSOLT 方法要求所有标准件都是已知的。然而,它取消了在VNA 第二个端口对一端口标准件进行测量的要求[51],[52]。这个特性极大地减少了对标准件进行再连接和再测量所花费的时间。然而,需要注意的是用QSOLT 法所校准的VNA 在它的第二个端口,即在校准过程中未连接一端口标准件处,存在着明显的测量误差[53]。LRRMLRRM 法是第一个明确地用于圆芯片级测量的方法。它是设计用来解决平面集总参数负载中诸如潜在的不对称性,阻抗与频率的相关性[54]等方面的限制的。然而,就像QSOLT 一样,它只在VNA 的一个端口对负载标准件进行测量。对于有些应用,这会导致在第二个VNA的端口处进行的测量不太可靠[55]。表2 对这些常用的自校准方法在下列指标上进行了一个比较:• 校准标准件类型• 校准件的使用• 从反射和传输测量所得到的误差项(ET)• 从冗余信息中所得到的结果。九、泄漏系统的校准很明显,对泄露系统的校准(例如,由15-项模型所描述的)要求有大量的标准件和/或校准测量。[56]中介绍了一个15-项模型的迭代解决方法。它建议使用4 个完全已知的二端口标准件:其中一个标准件是直通件,而其它3 个标准件是匹配-匹配,开路-短路,短路-开路的组合。正如随后在[57]中所介绍的,仅采用了4 个完全已知的二端口的标准件会导致一个不确定性的方程系统,从而最终降低了校准的精度。需要至少5 个这样的标准件。[57] - [60] 介绍了15-项模型的显式校准和一些自校准解决方案。同样,[33]中的工作给出了参考信道系统的解决方案(即22-项模型)。最后,[58]中介绍了针对泄露系统采用通用的自校准匹配- 未知- 反射- 网络(MURN)方法,其中的标准件有8 个未知参数。十、多端口情况和混合法事实上,10-项和7-项系统描述均可用于多端口反射计VNA 中。这便给了用户很大的自由来选择适合于他和她的系统应用的校准方法。因为7-项校准过程对一些标准件的不精确性不敏感,这便常常成为一个首选的方案(例如,[61],[62])。当校准7-项误差系统时,可用不同的方法来计算所选择的误差项。例如,人们可以将SOLR 与LRM[63]或其它方法相结合进行混合校准[64]。当一些直通标准件很难表征时(例如,在圆芯片上),就可以看出这种方法的好处了。然而,混合法在校准动态范围上可能会有些限制,这是因为它们是基于7-项模型基础之上的[65]。[66]和[67] 提出了另一种将不同校准方法的优点与通用的反射- 反射- 匹配- 直通相结合的思想,高级(GRRMT+)多端口解决方案。与混合校准法不同,GRRMT+校准过程使用7-项模型为基础的自校准LRM+和SOLR 过程来计算出部分已知标准件(即,反射和直通)的准确的性能参数。一旦完全知道了所有校准标准件的参数,就可通过改进的GSOLT 方法加上非理想但已知的标准件来计算误差项。因此,多端口10-项模型,多端口7-项模型和混合式方法的缺点便可一次性全部克服。十一、未来的展望在过去的40 年里,我们已经看到在微波测量仪器和校准及误差修正方法学上所取得的惊人的进步。这极大地影响了高频半导体器件的发展。精确的测量结果对于理解DUT 的实际性能,验证其模型以及改进设计都是非常关键的。因此,S-参数测量法的进步加速了,比如说,高性能通信和国防系统的发展。今天,无线技术和高带宽带应用上的进步,以及对低功率,低电磁干扰,高敏感度,高数据传输速率的需求推动了高频无源和有源差分式器件的发展。因此,测量系统的改进是提供宽带差分式驱动信号的不可分割的一部分。第一台商业化的能进行真正的差分式测量的多端口VNA 已经出现了[68],[69]。最近,也发表了一些修正系统误差的方法[70],[71]。这些方法都是对现有的单端系统进行了一些修改。校准和误差修正理论的下一大步很可能是引入真正的差分误差模型和校准标准件。新的简单明了的差分校准法将会极大地简化校准过程。它会将测量精度和对差分器件的表征提升到一个新的高度。

    时间:2018-10-01 关键词: 校准技术 矢量网络分析仪

  • 矢量网络分析仪在移动通信网络建设和维护中的应用

    1、概述随着移动通信的发展,2G、3G、4G通信网并存,使通信网络的复杂度越来越高,尤其是室内分布系统,往往由成百上千个射频器件组成,射频器件的质量好坏直接关系到通信网的质量,由于射频器件指标的下降,从而,使信号覆盖变差、干扰增加,导致接通率低、掉话高、话音质量差等用户感知度下降的现象越来越多。矢量网络分析仪被称为“射频测量万用表”,移动通信网的基站系统、室内分布系统中绝大部分射频器件的绝大部分指标是通过矢量网络分析仪来测量的。本文介绍了矢量网络分析仪及其在移动通信网建设和维护中的应用,希望对移动通信网络建设和维护领域的工程技术人员有所帮助。2、认识矢量网络分析仪矢量网络分析仪是使用自身的信号源、接收机来测量射频微波器件,如:双工器、跳线、连接器、功分器、合路器、电桥、放大器等无源和有源射频器件S参数的仪器。图1矢量网络分析仪S参数测量示意图S参数包括反射参数、传输参数。反射参数反映了微波网络的匹配性能,如:驻波比、回波损耗、反射系数等参数。传输参数反映了微波网络的传输特性,如:插损、隔离度、增益等。图中各S参数的含义,S11、S22是反射参数,S21、S12是传输参数。• S11:端口2匹配时,端口1的反射特性• S22:端口1匹配时,端口2的反射特性• S21:端口2匹配时,端口1到端口2的正向传输特性• S12:端口1匹配时,端口2到端口1的反向传输特性3、移动通信网常用射频器件及其指标3.1基站天馈系统• 天线:隔离度、驻波比(回波损耗)、、增益、前后比、旁瓣抑制• 跳线电缆:插损、带内波动、驻波比(回波损耗)• 连接器:插损、带内波动、驻波比(回波损耗)3.2室内分布系统• 功分器:插损、带内波动、驻波比(回波损耗)• 耦合器:插损、耦合度偏差、隔离度、驻波比(回波损耗)• 合路器:插损、带内波动、隔离度、驻波比(回波损耗)、带外抑制• 3dB电桥:插损、带内波动、隔离度、驻波比(回波损耗)• 衰减器:衰减度误差、带内波动、驻波比(回波损耗)• 负载:特性阻抗、驻波比• 放大器:增益、1dB压缩点• 直放站:增益、增益调节范围、收发隔离、带外抑制4、射频器件指标对移动网络质量的影响4.1信号覆盖射频器件以下指标的下降将导致信号覆盖质量变差。• 插损:插损变大导致有效发射功率降低。• 带内波动:带内波动变大导致一些频点上有效发射功率降低。• 驻波比:驻波比变大导致反射功率增大,有效发射功率降低。• 耦合度:耦合度降低导致支路信号功率降低。• 放大器增益:放大器增益降低导致有效发射功率降低。4.2系统干扰射频器件以下指标的下降将引起系统的间干扰。• 隔离度• 带外抑制5、矢量网络分析仪在移动通信网络建设维护中应用5.1网络建设• 入库检测• 工程验收移动通信网基站天馈系统往往建设在在高处,如:高层建筑的楼顶、铁塔等,维护难度较大;室内分布系统建设在高级宾馆、高档写字楼等,这些场所装修档次高,而室内分布系统维护时,通常要或多或少的破坏一部分装修,因此,系统维护时,时常遭到物业业主和物业管理单位的阻挠,维护难度很大。由此可见,在网络建设时,把好器件的的质量关,建设优质网络工程,减少维护工作量,做好射频器件的“入库检测”、“工程验收”工作是保障移动通信正常运营的重要环节。5.2网络维护• 故障器件摸排检查• 更换器件验证检查再好的移动通信网络也不可能不发生故障,对于网络故障需要具备快速高效的网络维护手段。利用矢量网络分析仪的时域反射分析(TDR)功能快速定位天馈系统和室内分布系统的故障;对于干路、分支点的关键器件进行排查;对于需要更换的器件进行性能指标验证检查,保证器件更换一步到位,避免质量差的器件上网,减少重复更换工作,提高工作效率。6、上海创远矢量网络分析仪ATE“一键”自动测试解决方案上海创远仪器技术股份有限公司研制的T5231A/T5281A便携矢网网络分析仪是特别针对移动通信运营商量身定制,频率范围分别覆盖300kHz-3GHz/300kHz-8GHz,达到业界同类“生产级”台式机相媲美的性能指标,可以满足基站天馈系统和室内分布系统射频组件,如:耦合器、功分器、电桥、合路器、衰减器、负载、跳线、放大器等器件的入库检测测试和现场维护测试。内置“一键”自动测试功能,实现快速测试,测试结果自动生成报表保存到硬盘,从而,大大提高测试效率,对测试人员无技术要求,使测试工作既便捷又准确。• 预设测量参数预先配置测量指标、测量参数、判定指标合格的阈值、报表模板,仪器自动按照配置文件设置的测量流程或应用软件定制的测量流程分步完成测量。• 测试过程测试人员只需要按照应用软件界面的文字提示信息进行被测器件的连接和单击测试按钮即可完成测量,测量完成后自动生成测量报告报表。ATE“一键”自动测试系统,对测试人员无技术要求,无需详细了解被测器件指标的测量方法,无需详细了解测量仪器复杂的操作使用方法,使测量工作不在局限于专业人事,简单化,自动化,大大减少测试工作量,提高生产效率。以GSM/WCDMA合路器测试为例介绍一下“一键”自动测试解决方案。(1)测试脚本(2)测试项选择(3)文字提示信息(4)测试结果实时显示(5)测试报告报表7、矢量网络分析仪与工程仪表比较天馈仪(驻波仪)频谱仪矢量网络分析仪1)用于现场测量天馈系统的驻波比、回波损耗、DTF故障点定位等反射测试。2)不能测量射频器件的传输性能指标,如:插损、隔离度、带外抑制等用于射频信号的频谱分析– 占用的带宽、信道功率、相邻通道功率比、场强、AM/FM demod、载波干扰比;接收的信号强度(RSSI) - 带内干扰和带外伪信号的定位与识别;调制识别等。1)用于准确测量射频器件,如:电缆、连接器、双工器、耦合器、电桥、功分器、衰减器、天馈系统的驻波、回波、插损、隔离度、带外抑制等指标。2)用于射频器件生产领域,运营商射频器件的入库检测、现场检测等领域。

    时间:2018-10-01 关键词: 网络建设 移动通信 维护 矢量网络分析仪

  • 腔体滤波器智能调试平台设计及实现

    腔体滤波器智能调试平台设计及实现

    0引言微波滤波器在卫星通信、中继通信、雷达、电子对抗及微波测量仪表中都有着广泛的应用。在卫星通信系统中,微波滤波器的性能直接影响着转发器通道的通信品质;对于无线通信系统而言,滤波器是一种至关重要的微波射频器件,它的使用对于分离频谱信息、提高通信质量、防止信号串扰有着十分重要的意义。在电磁环境日益复杂和频谱范围日益拥挤的今天,实现选频和去噪等重要功能的微波滤波器越来越受到使用者的重视。一般而言,滤波器手动调试实际上是一个实时迭代优化的过程。为了便于调试,滤波器结构上会有调试用的调谐螺钉,或者有其他形式的调谐元件,以便调试技术人员调试的时候可以改变滤波器谐振单元的谐振频率和谐振单元间的耦合量。调试技术人员调试的时候,根据矢量网络分析仪图形变化反复拧调谐螺钉,直到滤波器的性能达到设计要求。对许多调试技术人员而言,手动调试的过程更像一门手艺而不是一门科学。因此,复杂结构微小滤波器的手动调试一般都是由十分有经验的调试技术人员来完成的。在大批量的调试生产过程中,功率容量、温度效应、材料机械特性、无源三阶交调以及尺寸限制等都是滤波器实际加工中的重要考虑因素。微波滤波器的调试已经成为产业化过程中的瓶颈问题,目前工程中大量还是凭借矢网诊断和人工手动调试,难以做到快速准确的调试,特别是对缺乏经验的滤波器调试人员来说更是难以掌握。1滤波器智能调试原理及流程滤波器智能调试平台研制的目的是为了不断提高微波滤波器的调试效率,大大减少调试对于工程经验的依赖性,尽可能减少人的劳动。滤波器智能调试平台的目标是建立以计算机为核心的自动化调试平台,让计算机去充当重复工作的角色并且赋予其一定水平的智能判断来指导调试人员的工作。目前,基于计算机控制的智能调试方法主要分为频域方法和时域方法两类:(1)时域调试方法:这种方法主要是利用信号的频时域转换,得到滤波器的时域响应,寻找各可调元件与时域响应之间的变化规律,进行相应的调试。其中,较为突出的是安捷伦公司提出的时域调试方法。这种调试方法的缺点是:需要有一个理想的调试好了的滤波器的时域响应做模版。而且对于交叉耦合滤波器来讲,在滤波器调试参数与时域响应曲线之间不存在明显的关系。(2)频域调试方法:该方法基本思想是对滤波器S参数的频域响应曲线应用各种不同的数值计算方法,提取滤波器模型参数,找出与理想模型参数的差距,进行相应的调试。本系统采用了频域调试方法。如图1所示,两类方法都是在等效电路参数方面做文章,其主要步骤如下:①测试待调滤波器的响应;②利用等效电路模型进行参数提取;③对比实际响应提取参数与理想响应理想参数的差异;④根据以上差异获取下一步调试的方向和幅度,改变可调部件的实际位置;⑤重复以上步骤①~步骤④,直至实测响应达到指标为止。2滤波器智能调试平台如图2所示,滤波器智能调试平台主要由计算机、调试机械(如电机)、矢量网络分析仪和待调试滤波器组成。其基本工作流程是:首先,矢量网络分析仪测试出滤波器参数,然后将参数采集到计算机中,通过软件分析,得出需要调试的物理量,然后通过计算机控制直流电机带动特制的调试设备,去调试滤波器的调试螺钉,直到矢量网络分析仪测试出滤波器参数符合设计要求为止。2.1矢量网络分析仪矢量网络分析仪能全面评测射频和微波器件。其包括集成的合成源,测试装置和调谐接收器。内装的S参数测试装置提供正向和反向的全范围幅度和相位测量,如图3所示。2.2调试机械本方案采用直流电机带动特制的调试设备,将调试螺钉调到最佳位置。目前的控制台由五台电机控制,分别是x轴,y轴,z轴,DM(锁紧螺帽的电机),DT(调谐螺钉的电机);其中x,y,z用的是步进电机,DM、DT用的是伺服电机。2.3工业控制计算机在工业控制计算机上运行相应的软件,来读取网络分析仪的测试参数,分析并计算出需要调试的物理量,然后去控制直流电机调试设备进行调试。如图4所示,用户只需在软件界面中点击开始调试,调试平台就能自动地完成调试过程,对于调试过程中出现的异常也能够进行友好的提示。3结语微波滤波器在通信、雷达和测量等领域广泛应用,随着社会的发展,它的需求也日益增加。微波滤波器的调试是一项复杂工作,它需要丰富的实际操作经验。随着滤波器节数的增加,调试所涉及参数的数量也增加,调试难度也大大增加。引人智能化的计算机辅助调试技术,既能减少调试人员的工作量,又能提高生产效率,具有很好的应用前景。本文提出的针对腔体滤波器的智能调试平台,能够实现计算机自动调试滤波器,它能降低微波部件的试验调试难度,缩短调试周期,又大大降低对操作者调试经验的要求,是提高微波滤波器批量生产能力的一条非常好的途径。

    时间:2018-09-28 关键词: 电源技术解析 腔体滤波器 智能调试平台 矢量网络分析仪

  • 一般矢量网络分析仪的使用方法

    由于矢量网络分析仪具有频率范围宽、动态范围大、分辨率准确度高、快速实时、使用简捷、灵活方便等特点,无论是从事研发或者测试工程师对矢量网络分析仪的使用频率很高,它为工程师们提供了极大的帮助。本文主要总结一般矢量网络分析仪的使用方法,包括其前期准备及其使用的注意事项,并分析面板各按键的功能和操作。希望对您有所帮助。一、一般的使用流程确保电源线和底线正确连接后开机->设定合适的功率->设定起始状态->设置显示->调用已存储状态->进行两通道校准->存储状态->按要求连接器件->测量->长时间停用->关机二、面板各按键的功能和操作按左下方的电源键启动,启动后待仪器完成自检后进入启动界面,起始状态设置包括功率电平设定、仪器测量频带设置、测量数据轨迹的添加,可以选择在同一个屏幕显示多个轨迹或者在多个窗口中分别显示不同的轨迹。电力测功机进行测量之前要进行校准,或者调出以前校准的数据,一旦测试条件变化(如温度、环境、测试电缆发生变化),都要进行重新校准,在使用的过程中,我们可以将所测的数据和图像进行调出和保存,也可以在轨迹上添加标记点作为参考的比对,为了提高测试的动态范围而又不影响速度,必要事还需要进行分段扫描等操作。上面提及的这些方面,我们都可以通过熟悉它的操作面板和熟悉其操作面板的功能后通过各个不同的按键的设置来实现。三、前期准备阶段和注意事项开机前确保稳压电源及仪器地线的正确连接,使用中要求必须佩戴防静电手镯,不得接触仪器接头内芯,不允许工作台有较大振动,不能随意切断电源,造成不正常关机也不可以不能频繁开关机。使用射频电缆时不要用力大,确保电缆保持较大的弧度。用毕电缆接头上加接头盖,旋接接头时,要旋接头的螺套,尽量确保内芯不旋转,尽量协调、少用校准件,若使用校准件时用毕必须加盖放回器件盒,转接件用毕应加盖后放回盒中,停用时必须关机,关闭稳压电源后才可打扫卫生,另外一点必须说明的就是无源器件调试必须佩戴干净的手套。

    时间:2018-09-21 关键词: 动态范围 频率范围 矢量网络分析仪

  • 矢量网络分析仪在移动网络建设和维护中的应用

    1概述   随着移动通信的发展,2G、3G、4G通信网并存,使通信网络的复杂度越来越高,尤其是室内分布系统,往往由成百上千个射频器件组成,射频器件的质量好坏直接关系到通信网的质量,由于射频器件指标的下降,从而,使信号覆盖变差、干扰增加,导致接通率低、掉话高、话音质量差等用户感知度下降的现象越来越多。矢量网络分析仪被称为“射频测量万用表”,移动通信网的基站系统、室内分布系统中绝大部分射频器件的绝大部分指标是通过矢量网络分析仪来测量的。本文介绍了矢量网络分析仪及其在移动通信网建设和维护中的应用,希望对移动通信网络建设和维护领域的工程技术人员有所帮助。 2认识矢量网络分析仪   矢量网络分析仪是使用自身的信号源、接收机来测量射频微波器件,如:双工器、跳线、连接器、功分器、合路器、电桥、放大器等无源和有源射频器件S参数的仪器。    S参数包括反射参数、传输参数。反射参数反映了微波网络的匹配性能,如:驻波比、回波损耗、反射系数等参数。传输参数反映了微波网络的传输特性,如:插损、隔离度、增益等。   图中各S参数的含义,S11、S22是反射参数,S21、S12是传输参数。   - S11:端口2匹配时,端口1的反射特性   - S22:端口1匹配时,端口2的反射特性   - S21:端口2匹配时,端口1到端口2的正向传输特性   - S12:端口1匹配时,端口2到端口1的反向传输特性 3移动通信网常用射频器件及其指标 3.1基站天馈系统   - 天线:隔离度、驻波比(回波损耗)、增益、前后比、旁瓣抑制   - 跳线电缆:插损、带内波动、驻波比(回波损耗)   - 连接器 :插损、带内波动、驻波比(回波损耗) 3.2室内分布系统   - 功分器 :插损、带内波动、驻波比(回波损耗)   - 耦合器 :插损、耦合度偏差、隔离度、驻波比(回波损耗)   - 合路器:插损、带内波动、隔离度、驻波比(回波损耗)、带外抑制   - 3dB电桥 :插损、带内波动、隔离度、驻波比(回波损耗)   - 衰减器:衰减度误差、带内波动、驻波比(回波损耗)   - 负载:特性阻抗、驻波比   - 放大器:增益、1dB压缩点   - 直放站:增益、增益调节范围、收发隔离、带外抑制 4射频器件指标对移动网络质量的影响 4.1信号覆盖   射频器件以下指标的下降将导致信号覆盖质量变差。   - 插损:插损变大导致有效发射功率降低。   - 带内波动:带内波动变大导致一些频点上有效发射功率降低。   - 驻波比:驻波比变大导致反射功率增大,有效发射功率降低。   - 耦合度:耦合度降低导致支路信号功率降低。   - 放大器增益:放大器增益降低导致有效发射功率降低。 4.2系统干扰   射频器件以下指标的下降将引起系统的间干扰。   - 隔离度   - 带外抑制 5矢量网络分析仪在移动通信网络建设维护中应用 5.1网络建设   - 入库检测   - 工程验收   移动通信网基站天馈系统往往建设在在高处,如:高层建筑的楼顶、铁塔等,维护难度较大;室内分布系统建设在高级宾馆、高档写字楼等,这些场所装修档次高,而室内分布系统维护时,通常要或多或少的破坏一部分装修,因此,系统维护时,时常遭到物业业主和物业管理单位的阻挠,维护难度很大。由此可见,在网络建设时,把好器件的的质量关,建设优质网络工程,减少维护工作量,做好射频器件的“入库检测”、“工程验收”工作是保障移动通信正常运营的重要环节。 5.2网络维护   = 故障器件摸排检查   = 更换器件验证检查   再好的移动通信网络也不可能不发生故障,对于网络故障需要具备快速高效的网络维护手段。利用矢量网络分析仪的时域反射分析(TDR)功能快速定位天馈系统和室内分布系统的故障;对于干路、分支点的关键器件进行排查;对于需要更换的器件进行性能指标验证检查,保证器件更换一步到位,避免质量差的器件上网,减少重复更换工作,提高工作效率。 6上海创远矢量网络分析仪ATE“一键”自动测试解决方案   上海创远仪器技术股份有限公司研制的T5231A/T5281A便携矢网网络分析仪是特别针对移动通信运营商量身定制,频率范围分别覆盖300kHz-3GHz/300kHz-8GHz,达到业界同类“生产级”台式机相媲美的性能指标,可以满足基站天馈系统和室内分布系统射频组件,如:耦合器、功分器、电桥、合路器、衰减器、负载、跳线、放大器等器件的入库检测测试和现场维护测试。内置“一键”自动测试功能,实现快速测试,测试结果自动生成报表保存到硬盘,从而,大大提高测试效率,对测试人员无技术要求,使测试工作既便捷又准确。   - 预设测量参数   预先配置测量指标、测量参数、判定指标合格的阈值、报表模板,仪器自动按照配置文件设置的测量流程或应用软件定制的测量流程分步完成测量。   - 测试过程   测试人员只需要按照应用软件界面的文字提示信息进行被测器件的连接和单击测试按钮即可完成测量,测量完成后自动生成测量报告报表。   ATE“一键”自动测试系统,对测试人员无技术要求,无需详细了解被测器件指标的测量方法,无需详细了解测量仪器复杂的操作使用方法,使测量工作不在局限于专业人事,简单化,自动化,大大减少测试工作量,提高生产效率。   以GSM/WCDMA合路器测试为例介绍一下“一键”自动测试解决方案。   1、测试脚本   2、测试项选择   3、文字提示信息   4、测试结果实时显示   5、测试报告报表 7矢量网络分析仪与工程仪表比较

    时间:2018-08-07 关键词: 移动网络 矢量网络分析仪

  • 基于PNA矢量网络分析仪的脉冲信号S参数测量方法

    传统上,矢量网络分析仪被用来测量组件的连续波形(CW)S参数性能。在这些操作环境下,分析仪常常作为窄带测量仪器工作。它向组件传输已知的CW频率并测量CW频率响应。如果我们想查看单个CW频率的响应,我们可以在频率看到单个的频谱。分析仪具有一个内置的源和接收器,它们被设计成工作在同步模式下,利用窄带检测来测量组件的频率相应。大多数的分析仪可以配置用来对许多频率进行频率扫描。  在某些情况下,加到组件上的信号必须以一定的速度和持续时间进行脉冲调制(开关)。如果我们要查看一个单音脉冲调制的频率响应,它将包含无数的频率成分从而使标准窄带VNA的使用变得很困难。本文讲述了如何使用Agilent科技公司的PNA矢量网络分析仪进行配置并获得准确测量脉冲信号的S参数。    为了查看一个脉冲调制信号的频率响应的频谱是什么样子,我们首先从数学上分析时域响应。公式1给出了一个脉冲调制信号的时域关系。它的产生步骤是首先建立一个用脉宽为PW的矩形窗加窗的信号。然后产生一个Shah函数,这个函数包含一个间隔为1/PRF的周期脉冲序列,其中PRF是脉冲重复频率。这也同可以看作是间隔和脉冲周期相等的脉冲。而后加窗信号和Shah函数卷积,产生一个和脉冲调制信号相应的周期脉冲串:  为了查看这个信号在频域的样子,对脉冲调制信号Y(T)进行傅立叶变换:  式2表明脉冲调制信号的频谱是一个抽样的Sinc函数,抽样点(信号呈现)和脉冲重复频率(PRF)相等。    图1的左面给出在PRF为1.69kHz和脉冲宽度7μs情况下脉冲调制谱的样子。图1的右面给出在放大脉冲基调条件下同样的脉冲调制谱。频谱具有距离基调NPRF的成分,其中N是谐波数。基音包含测量信息。PRF音是基音的制造物,靠近基音的频谱成分具有相对高的幅度。    PNA矢量网络分析仪通过对微波能量进行窄带检测来工作。它把接收信号下变频到中频(IF),然后数字化(在离散间隔上抽样)并进行数字滤波,从而进行显示和分析。有两种不同的方法利用微波PNA来测量一个脉冲调制信号的S参数:“同步脉冲获取”和“频谱消零”。同步脉冲获取和在8510矢量网络分析仪上的“全脉冲表征”工作方式类似。频谱清零和8510系列内的“高PRF”工作方式相似,例外的是,尽管内指脉冲和脉冲成型可行,但是它们不能工作在8510上的“高PRF”方式下。    同步脉冲获取方法在进来的单独脉冲和分析仪离散抽样之间提供同步定时。如果脉宽超过最小同步时间从而获取了一个或更多的数据点,那么测量就落入同步脉冲获取工作方式(图2)并且接收机工作在无脉冲减敏现象得全CW敏感度和动态范围。脉冲到脉冲特征可以用这种方式测量,每一个显示数据点和一个单独的脉冲相对应。这种测量通过利用触发点模式和应用外部触发测量每个脉冲调整输入的脉冲和分析仪的抽样间隔来进行配置。分析仪必须在获取周期之前看到100μs的脉冲调制信号(少于推荐的100μs会导致测量性能下降)。这和PNA硬件滤波器的设置有关。在应用触发器和分析仪开始数字化一个离散点之间之间有70μs的时延。因此,需要在输入脉冲和应用触发器之间需要有30μs的延迟,从而获得100μs的获取前脉冲调制RF。分析仪上的最小获取时间大约和中频带宽的倒数(1/IF)成反比。随着中频带宽的减小,每个数据点的测量获取时间增加。中频带宽为35kH时分析仪上的最小获取时间是30μs。这和130μs的最小可测量脉冲宽度相对应。 Function ImgZoom(Id)//重新设置图片大小 防止撑破表格 { Var W = $(Id).Width; Var M = 650; If(W < M){Return;} Else{ Var H = $(Id).Height; $(Id).Height = ParseInt(H*M/W); $(Id).Width = M; } } Window.Onload = Function() { Var Imgs = $("Content").GetElementsByTagName("Img"); Var I=0; For(;I同步操作方式需要一个脉冲发生器为外部触发和调制提供定时宽度和时延。调制可以通过调制测试设备的偏置或者调制源信号提供。一个标准的微波PNA有入触发和出触发BNC连接器,它们可以用来同步分析仪和脉冲发生器的触发时间。在点模式下,应用入触发信号会导致分析仪在第一个频率点获取数据,把源频率移动到下一个点,然后发送一个出触发信号通知脉冲发生器它已经准备好获取下一个数据点。在这一点,脉冲发生器会发送一个触发给分析仪从而获取下一个数据点。

    时间:2018-07-25 关键词: 脉冲信号 pna s参数测量 矢量网络分析仪

  • 使用手持式矢量网络分析仪测量雷达散射截面

    雷达散射截面是目标物体在雷达接收机方向上反射雷达信号能力的一种表示方式,其定义为在一个给定方向上的单位角弧度内目标物体散射功率与注入目标物体的功率密度之比。本文主要涉及怎样使用安立公司高性能手持式电池操作微波矢量网络分析仪以及使用此仪表中的时域门功能在现场或航线中对目标的雷达散射截面进行测量。从图1中可以看出一个目标的雷达散射截面大小可以通过比较此目标和标准散射截面(1m2)校准球对信号的反射直观的导出。当金属球体的半径远大于信号波长λ时>15 λ,并且球和雷达的距离R>15λ 时,此金属球的雷达散射截面与信号频率无关。图1 雷达散射界面的基本概念雷达方程图2 为典型的雷达方程描述,发射信号功率Pt通过增益为Gt的发射天线,并通过空间的衰减(距离为R)后,遇到目标并将部分信号功率(反射信号与入射信号的功率比为目标的雷达散射截面)反射回雷达接收天线,同样经过空间衰减,通过增益为Gr的接收天线得到功率为Pr,Pr与以上这些参数的关系在图3方程中表示。图2 典型雷达方程,这里发射和接收天线分开了一个β角,单站雷达的发射和接收天线处于同一位置(β=0),目标与雷达的距离为R,信号的极化与发射和接收天线的极化相关图3 雷达散射界面测量框图Pt=雷达发射功率Pr=雷达接收功率Gt=雷达发射天线增益Gr=雷达接收天线增益Gσ=目标雷达散射截面等效增益Ae=雷达接收天线有效面积(m2)R=目标距离λ=信号波长=目标雷达散射截面积(m2),(定义为,其中k 为常数)这里雷达散射截面积可以通过这里k是常数由以上方程得出,只要测得,我们即可以推导得到目标雷达散射截面积,如果我们将发射天线和接收天线分别接在矢量网络分析仪的测量端口1 和端口2,那么测量等同于S21 测量,而由于k 是常数与被测目标无关,因此我们只要对标准球进行校准测量即可以得到在测量条件下(测量距离和测量频率)的k 值。矢量网络分析仪一般采用频率扫描测量,在此测量模式下我们可以通过傅立叶反变换得到时域(距离域)测量结果(类似于脉冲雷达),通过将不是目标(不同的距离)的反射响应滤除的方法,可以提高测量准确度。矢量网络分析仪测量雷达散射截面矢量网络分析仪以图5所示方式以频率扫描测量S参数。扫描的频率范围以相应的雷达频率范围为参考,图5中采用WR-90波导在X波段(8.2-12.4GHz)进行测量。图5,MS2028C使用波导天线进行散射界面测量图6为矢量网络分析仪测量雷达散射截面的典型连接框图。发射天线和接收天线分别接在矢量网络分析仪的两个测量端口上。一般来说这两个天线应处于同一平面上(相对于被测目标来说),并相互贴近。如果需要考虑极化影响,无论发射天线和接收天线应该可以单独或同时90度旋转(如图5中波导天线的E面和H面旋转)。被测目标应置于低反射的支架上或者单独在空中(航线上)。为了滤除其他位置的物体反射造成的测量误差,我们可以采用频率扫描测量并进行傅立叶反变换得到时域(距离域)测量曲线,使用时域滤波运算(时域门功能)将不属于被测目标的反射滤除,然后,将滤波后的结果再进行傅立叶变换转为频率域显示。但是由于矢量网络分析仪采用离散频率点扫描方式,因此,傅立叶反变换会有距离折叠现象(即在一定距离后,前面位置的响应重复出现),出现折叠的时间(距离)与频率扫描测量的关系是:ta=(N-1)/(频率扫宽),这里N是频率扫描点数。因此,测量距离R一般应小于ta×C/2,此处除2是因为信号传播路径是在测量距离上的来回。图6 矢量网络分析仪测试雷达散射界面框图天线系统的校准根据前面的描述,我们对雷达散射截面的测量可以归于矢量网络分析仪的S21测量,而矢量网络分析仪的端口校准(图6中的矢网校准面),可以认为是对矢量网络分析仪本身的发射功率和接收增益的归一化,而对天线增益和空间衰减的校准一般使用校准球或校准平面金属板。当然,也可以使用其他形状的物体,只要已知其散射截面积。使用球体的好处在于其散射截面积与频率无关,而校准物体的散射截面积最好与被测目标的散射截面积相近。例如,直径1.13米的金属球体的雷达散射截面积为1m2。图7,雷达散射截面与目标物理尺寸测量显示在完成矢量网络分析仪端口12项误差修正(校准)后,将天线接入测量端口并对准测量目标(或校准球体)区域,进行频率扫描测量得到S21(f),然后使用带通模式时域变换得到时域(距离域)S21(D),如图8和图9所示,并且可以使用时域门(时域滤波器)将不需要的反射滤除。图8,目标区域(没有放置被测目标和校准)所有反射的时域显示图9,在目标区域放置RCS为0.018平方米的校准球体的时域显示测量步骤和测量运算将对目标的雷达散射截面测量所使用的矢量网络分析仪设定为S21的测量。图10,使用矢量网络分析仪对雷达散射截面测量设定1.矢量网络分析仪进行12 项端口误差校准后,将发射天线接入端口1,将相应的接收天线接入端口2。注意天线极化方向。并保证测量距离D>20 λ,这里λ为信号波长。注意,根据目标尺寸选择天线,调整天线角度(偏角和仰角)和调节测量距离,应保证被测目标落在天线增益下降小于-1dB 的信号波束内。2.将被测目标从支架上移开,并测量支架的反射频率扫描S21(str)测量,如果目标不便移开,可以将天线同时(包括发射天线和接收天线)转到一个空旷位置,并保证在相同的距离上没有其他物体存在。如图10 中表示的校准区域。3.将频率扫描S21(str)结果转换为时域,同时将时域门设置在目标位置,并调节门宽将目标的所有反射均包含在内,将时域滤波后的结果保存至仪表内存。4.如果目标无法从支架上移开,应保证支架本身的反射S21(str)较反射目标低20dB以上(S21(str)+20dB

    时间:2018-07-20 关键词: 雷达 手持式 散射截面 矢量网络分析仪

  • 基于宽频率范围矢量网络分析仪的高速互联测试

    云计算,智能手机和LTE服务使网络流量显著的增加。为了支持这些增加的流量,IT设备- 如那些用于数据中心的高端服务器 –的速度必须增加,这对信号完整性测试的工程师提出了挑战,因此需要更先进的测试仪器,例如矢量网络分析仪(VNA),如下图1中所示。 图1: 毫米波矢网VectorStar Broadband ME7838A 系统 配合3743A 毫米波模块 成本/性能权衡 更高的数据传输速率引入新的设计挑战(如印刷电路板的导体趋肤效应和介电损耗),以及设计权衡相关的过孔,叠层,和连接器引脚。评估的背板材料的选择和各种结构的影响,需要在频域和时域进行精确的测量。精确的测量为成本/性能权衡决策提供了信心。其目的是通过眼图评估互连的影响。图2示出背板在眼图上的影响的一个例子。 图 2: 背板在眼图上的影响 有些问题是由于过孔,叠层和连接器引脚所引起的。然而,频域数据本身不足以定位特定问题的位置。此时有必要变换到时域数据。无源元件,以及子板之间的近场和远端点,必须测量电路板的频率域和时间域,以确保在每个测量点的传输特性满足标准。用最好的分辨率,来提高对不连续性,阻抗的变化,和串扰等问题的定位能力。此外,今天的许多结构是电大尺寸并对测量解决方案的无混叠的范围施加压力。 准确的模型有助于加快设计周期。然而,模型好坏仅取决于模型加载的参数,不准确的参数会最终导致仿真结果的不准确,潜在的衔接问题和不精确。反之,低频测试信息不准确导致的直流外推误差,也降低了模型的准确性,并与3维电磁仿真结果不一致。 在很多情况下可能无法直接连接到被测设备(DUT)。在这些情况下,去嵌入DUT周围的测试夹具就很有必要。有时需要与此相反的过程:对于某个器件,当周围环绕其他网络时,使用嵌入功能来评估器件的性能。然而,许多消极和本质的问题是由于不良的校准和去嵌入方法。此外,高的夹具损耗可能会影响去嵌入的准确性和可重复性。幸运的是,面对这些挑战,最新的矢量网络分析仪技术可以提供解决方案。 最大频率范围 高端和低端的频率范围限制了对背板或其它互连的S-参数表征,并影响数据质量和任何后续的建模,但原因不同。通常首先想到的是高端的频率范围,许多人对NRZ时钟频率3次或5次谐波进行测量。对于一个28 Gbps的数据传输速率,这意味着一个42 GHz或70 GHz截止频率的S-参数扫描。另一种对测量频率上限的考虑是基于因果性。当S-参数数据被转换成时域用于进一步仿真,因果性误差可能会出现。 对频域数据整理时,可以减少这些问题,有很多潜在的问题与对设备实际特性的曲解相关。要使仿真更安全,更准确,使用尽可能宽的频率范围– 直到最高频点的重复性和失真(例如,DUT开始有效地辐射,测量非常依赖周围环境)会影响测试结果。由于在更高层次的仿真中,正在研究更快和更复杂的瞬态响应,所以更宽频率范围数据的需求变得更强烈。 图 3: 当低频测试数据有错误时,眼图仿真的结果 低频端的频率扫描范围同样重要。当获得数据越接近直流, 越能提高模型精度。例如,考虑这样一种情况下,测得的S-参数的数据被送入一个软件的背板模型,来估计在眼图上的影响。图3示出在低频数据有一些错误时,眼图仿真的结果。在这个例子中,发现在较低的频率(10 MHz)上,传输测试的一个0.5 dB误差,能使一个眼睛85%张开的眼图完全封闭。由于中频段(10 GHz)的传输不确定性可能接近0.1dB,取决于设置和校准 - 在低频频率时,不确定度反而会更高- 眼图失真效应不能忽视。 图 4: 当低频测试数据很好并下延到70 kHz时,眼图仿真的结果 图 5: 使用示波器测试眼图的结果 图4显示的是当低频测量数据的质量比较好,并且低频向下延伸至70 kHz时眼图的仿真结果,这个仿真结果与图5中使用示波器测量的实际眼图很一致。 本质上非过渡部分的眼图是其低频频率的内在表现,计算低频S参数灵敏度数据是有意义的。因为低频率的插入损耗较小,一个大的固定dB的误差(这是VNA的不确定性往往表现)是特别有害的. 优化时域分辨率 矢量网络分析仪的时域分析的关键性能是定位故障位置。在一般情况下,更宽的频率扫描范围,可以得到更好的时间分辨率和空间分辨率。图6示出了时域分辨率在三个不同的频率跨度下的差异:40,50,和70 GHz。当使用低通时域模式时,分辨率最大化。低通模式,还允许分析背板上特性阻抗的变化,需要一个准谐波相关的设置,对应尽可能的最低开始频率。 一个 DC推算以提供相位参考,因此可以评估不连续的真正性质。因此,较低的低频频率扫描,可以更好的获得直流外推项。 图 6: 时域分辨率在三个不同的频率跨度下的差异:40,50,和70 GHz 结论 更高的数据传输速率需要精确的测量, 给性能/成本决策提供信心。测量工具必须帮助缩短设计时间,并在大规模生产中确保稳定的信号完整性。 VNA可以发挥关键作用,以帮助信号完整性工程师迎接增长的数据速率挑战,作出适当的成本/性能折衷,实现仿真和测量之间的一致性,并去除夹具的影响。当选择VNA时,要考虑一些特征,例如高频和低频的频率范围,时域的性能,以及先进的校准和去嵌入技术等。

    时间:2018-07-11 关键词: 宽频率范围 高速互联测试 矢量网络分析仪

  • 矢量网络分析仪Wiltron360B在RF仿真中的应用

      一、 引言   射频仿真系统的子系统-天线阵列及馈电系统,主要用于模拟弹目间的视线角运动,为了保证天线阵列及馈电系统的角位置模拟精度,必须对天线阵列系统进行校准。所谓校准是指为阵列控制计算机所存贮的表格获得项目数据,这些表格用于对天线阵列系统进行补偿和控制,实质上,就是要测量天线阵列系统中程控微波器件的表格,即插入衰减和插入相移。   因此,   二、 矢量网络分析仪Wiltron360B   矢量网络分析仪Wiltron360B由矢量网络分析仪、信号源、测试座、测试座转换器等各自独立的仪器,通过GPIB接口和专用接口组成一个完整的测量系统。它可以控制两个测试座和两个信号源,是一台测量精度高、自动化程度高、测量速度快、功能强大的测量仪器。   3630A是一频率转换器测试座,它是一四通道接收机,能够测量混频器、多端口器件、天线等的幅度和相位,其前面板的结构如图1所示。信号源的信号由RF IN端提供给3630A测试座,然后一分为二,一路由RF OUT输出,作为被测器件的测试信号;另一路由SOURCE LOCK OUTPUT输出,连接到RA或RB,作为锁相参考信号。   TA RA SOURCE LOCK OUTPUT RB TB RF OUT RF IN      图1 3630A前面板示意图   三、 射频仿真系统对测量的技术要求   在阵列式射频仿真系统中,天线阵列及其馈电系统的校准是一项非常重要的工作。校准与通常的微波器件的幅度和相位的测量本质上是一致的,但它有自身的特点:⑴信号源放置在远离矢量网络分析仪的地方,甚至不在同一实验室;⑵被测信号需经过下变频后送入矢量网络分析仪;⑶要求有较高的相对幅度和相对相位测量精度;⑷要求有较高的幅度和相位稳定性;⑸测量两路信号间的幅度和相位。因此,选择矢量网络分析仪作为幅相测量设备,并辅以必要的外围设备组成校准测试系统,是最佳选择。关键是DUT所要求的测量信号的频率,与矢量网络分析仪的测试频率不同。 四、 测试系统的组成   选择3630A作为天线阵列及其馈电系统校准时的测试座,整个系统的组成原理如图2所示。   滤波放大 混频   本振 馈电系统 信号源   滤波放大 混频   TA RA SOURCE LOCK OUTPUT RB TB RF OUT RF IN      图2 测试系统原理框图   信号源输出频率为f1的信号,经天线阵列馈电系统后由天线辐射出去,两个接收天线的接收信号经混频变为频率为f2的信号,再经滤波放大后分别馈入3630A的TA、、RA端。   考虑到测量信号的频率与矢量网络分析仪的测试频率不同以及DUT的距离较远,测试信号由一台单独的频综提供,位于DUT附近。为了保证整个测试系统的相参性,Wiltron360B、信号源、本振用同一个10MHz信号作为参考信号。   五、 矢量网络分析仪的设置   将ROURCE LOCK OUTPUT端与RB端直接相连。将Wiltron360B的测试座设置为3630A,测试频率设置为f2。由于本系统只是测试TA/RA,而S11就是定义为TA/RA,因此将Wiltron360B设置为单通道显示(SINGLE CHANNEL),并将通道1激活(CH1),至此,主要的设置完成,可以进行测试。   为了测试过程的自动化,由计算机通过GPIB接口实现对矢量网络分析仪Wiltron360B的遥控,Wiltron360B的所有设置和测试数据的读取都是由计算机自动完成的。   六、 结束语   本测试系统所关注的不是DUT本身的插入损耗和插入相移,而是关注当DUT的状态发生变化时,其插入损耗和插入相移的变化量,是一种相对测量。按照上述方案所组成的校准系统能够满足所需要的较高的技术指标要求,并一直应用在射频仿真试验中。

    时间:2018-06-13 关键词: rf仿真 wiltron360b 矢量网络分析仪

  • 如何测试射频微波元器件

    矢量网络分析仪作为射频微波元器件性能评价的一个基本工具,有着广泛的应用,下面我们通过一个滤波器的测试过程来看一看矢量网络分析仪E5063A是如何测试一个射频微波元器件的。 Step 1 设置矢量网络分析仪E5063A的测试参数:起始和截至频率,中频带宽和测试点数,然后执行校准移除系统误差,这里我们使用了既快又准的E-cal校准。 在校准前请观察E-Cal的LED指示灯是否已经变为绿色,绿色代表ECal已经准备完毕可以开始校准(如果您使用的是N755x系列电子校准件,它启动后即可开始校准,无需等待)。 另外一个必须注意的是要检查网分的源输出功率,避免损坏电子校准件或者让电子校准件过载。我们将源输出功率调整为-15 dBm。把电子校准件的B端口连接到E5063A的端口1,电子校准件的A端口连接到SMA线缆的一端,注意要使用转矩扳手拧紧并开始校准。校准过程仅需几秒钟。 Step 2 开始测量把被测件连接到E5063A的端口1,以及SMA线缆的一端。(SMA线缆的另外一端接的是E5063A的端口2)进行S11 端口1反射测量。测量结果会以对数显示 (默认情况)。 Step 3 对S参数测量结果进行数据分析测量S21(端口1和2之间的传输测量)。 测量结果显示为trace 1 增加一条新的trace2,显示S11测量结果。把trace1和trace2并列显示 将S11测量结果显示为史密斯图Smith Chart 调整S21 trace1的比例 在S21测量结果(trace 1)上打开一个marker, 搜索峰值 分析带通滤波器的带宽(E5063A提供了3dB带宽的计算功能 )

    时间:2018-04-08 关键词: 射频微波元器件 矢量网络分析仪

  • 矢量网络分析仪的应用

    引 言 在科研及生产中,高性能的矢量网络分析仪是功能最强的网络分析仪,它对于各种微波器件和组件的特性分析具有至关重要的作用。它具有频域和时域两类测试功能,可以很好地完成诸如滤波器、放大器、混频器以及系统中有源和无源微波组合等的各种参数的调试、测试。安立公司提供的一体化37200/37300系列矢量网络分析仪具有频率范围宽、动态范围大、分辨率准确度高、快速实时、使用简捷、灵活方便等特点,为工程师们提供了极大的帮助。下面我就37247A及37369C矢量网络分析仪的部分应用作一粗浅的介绍。 两路相位平衡调试 在某雷达产品的研制和系统的总调过程中,会对和差两路相位的不平衡性提出要求,为了使和差两路的相位满足设计要求,除了在设计时要仔细考虑影响相位不平衡的诸多因素以及减少相位不平衡的方法,还要在今后的总调中加以调整修正,以适应整个系统的要求。根据总调现场的条件,我们需要有一个快捷有效、切实可行的测量手段。以前我们使用的是八十年代初的手动矢量网络分析仪,精度较低,显示不直观,测量结果无法输出。 为了确保测试的精度和有效性,和差两路相位平衡的测试宜采用包括天线、馈线以及高频接收机和差相加器(魔T)之前各微波器件在内的大系统统调测量,安立公司的37247A矢量网络分析仪为这个调试提供了有力的测量手段。 图1 和差相位平衡测试框图 图1显示了和差相位平衡的测试框图。以任一路作为基准,利用37247A矢量网络分析仪的校准(RESPONSE-THRU)或迹线存储运算(DATA→MEM,DATA/MEM)功能,可以很直接地看到和差两路的相位平衡情况,见下图。 图2 配平前的和差两路相对相位 图2显示了和差两路配平前的相对相位。从图中可见,两路的相位差未达到要求,需要调整。根据网络分析仪测量出的相位差数,由公式Δl=ΔΦ/(2π/λg)计算出须增加的匹配长度Δl,垫接在电长度短的支路上,并通过网络分析仪实时分析观察,直至满足技术要求为止,最终结果可通过绘图仪或磁盘输出。 另外,也可通过37247A网络分析仪的内部电长度补偿功能(配合适当的介电常数),自动计算出配平时须修正的长度,该长度显示在分析仪的显示屏上,方便快捷。 放大器的1dB压缩点 37369C不但具有频率扫描方面的诸多应用,而且还具备了功率扫描的能力,可对放大器的非线性性能进行描述。图3显示了在某一频点上放大器的输出功率与输入功率的关系,图中的线性部分是放大器的小信号增益区域;输入功率继续增加时,增益就开始下降,放大器进入增益压缩区,随着输入功率的进一步加大,输出功率将不再增加,继而达到了饱和,放大器的1dB压缩点即为增益相对于线性增益下降1dB时的输入功率(或对应的输出功率)。     图3 放大器输出功率与输入功率 下面就是我们对所研制的Z002低噪声放大器1dB压缩点指标的检定测试。这里,我们通过37369C内置的增益压缩软件,可以很快地完成这一测试。首先,在37369C上按Appl键,选择SWEPT POWER GAIN COMPRESSION功能,根据被检放大器的工作频段设置需测的频率点(37369C最多可置10个点):6GHz、8GHz、12GHz、14GHz、16GHz、18GHz,依照公式PSTART=压缩点指标-增益-15dB及PSTOP ≈ PSTART+20dB 设定扫功率范围。 图4 按照图4做线性功率校准,调整每个频点的源输出功率,然后用被检放大器替换功率探头,并选择GAIN COMPRESS功能完成测试,结果为-20.7dBm(21.58dBm)。 时域功能 我们知道,在测量比较复杂系统的反射时,得到的是各部分影响的综合结果,对于各具体部分(反射特性)的情况不易确定,这就给整体调试带来了不便。安立公司的37369C矢量网络分析仪的时域功能可方便地解决这个问题。网络分析仪的时域测量功能就是在频域中测量后,通过其内部处理器做反傅立叶变换得到时域响应,时域响应显示了网络的反射系数和传输系数与时间的关系,它包含了每个反射点的幅度、位置信息以及每个传输通路的信息。 时域测量有两种不同的工作方式,即带通方式和低通方式。带通方式就是给出器件的脉冲响应,它适用于任何频率范围,是最常用的工作方式。低通方式主要用来做低通器件的测量,它可提供器件的脉冲响应和阶跃特性,通过显示的特性曲线可以确定响应的幅值及反射点的类型(即阻抗特性R、L或C)。 时域测量中的"WINDOW"功能,可改善时域测量的动态范围,提高时域响应中的幅度分辨力。另外,它还有一个非常有用的"GATE"功能,这是一个时间滤波器,形状犹如一个带通滤波器,它可以去掉"GATE"以外的响应对测量结果的影响,很方便地选择我们感兴趣的部分进行测量分析。 网络分析仪的时域功能不仅可用于检测电缆的反射点,实现故障定位,还可在传输测量中观察被测设备各路的传输情况。我们在做声表面波滤波器特性的测试时,其测量结果包括了多路传输、转接器、连接电缆以及滤波器夹具等的影响,其真实特性无从而知。应用了时域测量的"GATE"功能之后,我们就可去除转接器、连接电缆以及夹具等的影响,从而获得该滤波器更准确的特性。 结束语 由于时间关系,这里仅介绍了网络分析中几个简单的应用实例。安立公司的37369C矢量网络分析仪还有许多其他非常有用的功能,这里就不再赘述了。在实际应用中,37369C矢量网络分析仪为我们提供了很好的调试测量手段,大大地提高了我们的工作效率。

    时间:2018-01-05 关键词: 测量 相位 增益压缩 矢量网络分析仪

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