利用机器学习加快TEM样品制备
4月20日,赛默飞宣布推出Helios 5 EXL晶片双束透射电子显微镜,旨在满足半导体厂商随着规模化经营而不断增加的样品量以及相应的分析需求。
新一代仪器提升数据可靠性,控制图像畸变≤1%。
全新STM32U0系列MCU来袭, 打造功耗、功能与成本的完美平衡
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