在现代电子设备中,随着功率需求的不断增加,大电流传输成为了一个关键问题。过孔作为PCB(印制电路板)中实现层间电气连接的重要结构,在大电流传输过程中起着至关重要的作用。然而,过孔在承载大电流时,会产生电流密度分布不均匀的现象,进而引发焦耳热效应。过高的温度不仅会影响过孔的电气性能,还可能导致PCB的可靠性下降,甚至引发故障。因此,对过孔阵列的电流密度分布与焦耳热进行耦合建模和仿真分析,对于优化PCB设计、提高系统可靠性具有重要意义。
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