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某型导弹发射装置随动测试故障分析解决方案
摘要：就某型导弹发射装置中1553B总线通信异常导致的随动测试故障进行了分析，给出了该随动测试故障形成的原因，同时给出了这种故障的纠正解决方案及其有效，性验证结果。
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电路系统中的闩锁效应及其预防设计
摘要：针对CMOS集成电路的闩锁效应，围绕实际应用的电路系统中易发生闩锁效应的几个方面进行了详细说明，提出了采用严格的上电时序、基于光耦的电路隔离设计和热插拔模块的接口方法，可以有效地降低发生闩锁效应的概
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