-
高速通道无源测试去嵌：TRL校准与端口延伸的误差抑制方法 引言
在5G通信、AI芯片等高速电子系统中，无源通道（如PCB走线、连接器、封装基板）的信号完整性直接影响系统性能。某5G基站因无源通道阻抗失配导致误码率高达10⁻⁴，数据传输效率下降30%。传统测试方法受限于测试夹具、连接线等寄生效应，导致测量结果与真实通道特性偏差达±15%。TRL（Thru-Reflect-Line）校准与端口延伸技术通过数学建模和误差补偿，可将测量误差抑制至±2%以内。本文结合TRL校准的8项误差模型与端口延伸的相位补偿算法，实现25Gbps通道S参数的精确提取。
