作者：曹旭荣，方延奋，王业清 (爱德万测试（中国）管理有限公司)摘要：随着SerDes芯片集成度，复杂度，传输速率的不断提高，传统的自动化测试系统已经无法满足SerDes测试速率需求。为解决该测试难题，
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