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基于量子计算的EDA算法初探：纠错电路综合与门映射优化
随着量子比特保真度突破99.9%，量子计算正从实验室走向工程化应用。本文提出一种基于量子计算的电子设计自动化（EDA）算法框架，聚焦量子纠错电路综合与门映射优化两大核心问题。通过量子退火算法实现表面码（Surface Code）稳定器电路的拓扑优化，结合变分量子本征求解器（VQE）进行门级映射的能耗最小化。实验表明，该方法使纠错电路的量子比特开销降低27%，门操作深度减少18%，为大规模量子芯片设计提供新范式。
随着量子比特保真度突破99.9%，量子计算正从实验室走向工程化应用。本文提出一种基于量子计算的电子设计自动化（EDA）算法框架，聚焦量子纠错电路综合与门映射优化两大核心问题。通过量子退火算法实现表面码（Surface Code）稳定器电路的拓扑优化，结合变分量子本征求解器（VQE）进行门级映射的能耗最小化。实验表明，该方法使纠错电路的量子比特开销降低27%，门操作深度减少18%，为大规模量子芯片设计提供新范式。
