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BGA锡球与IMC生长：微型化电子封装的可靠性密码
在新能源汽车电控系统、5G基站等高密度电子设备中，BGA（球栅阵列）封装凭借其引脚密度高、信号传输快等优势，已成为芯片与PCB（印刷电路板）连接的核心技术。然而，BGA锡球与铜基板界面处形成的界面合金共化物（IMC，Intermetallic Compound），却如同一把“双刃剑”——既是焊接强度的保障，也是失效的潜在源头。
在新能源汽车电控系统、5G基站等高密度电子设备中，BGA（球栅阵列）封装凭借其引脚密度高、信号传输快等优势，已成为芯片与PCB（印刷电路板）连接的核心技术。然而，BGA锡球与铜基板界面处形成的界面合金共化物（IMC，Intermetallic Compound），却如同一把“双刃剑”——既是焊接强度的保障，也是失效的潜在源头。
