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112G+通道去嵌误差抑制：多端口TRL校准与频变损耗补偿模型
在高速数字通信领域，112G及以上速率的通道传输技术正逐渐成为主流。然而，随着数据速率的提升，信号在传输过程中受到的干扰和损耗也愈发严重。通道去嵌误差是影响高速信号完整性的关键因素之一，它会导致信号失真、眼图恶化，进而降低通信系统的性能。多端口TRL（Thru-Reflect-Line）校准技术和频变损耗补偿模型为抑制112G+通道去嵌误差提供了有效的解决方案。
在高速数字通信领域，112G及以上速率的通道传输技术正逐渐成为主流。然而，随着数据速率的提升，信号在传输过程中受到的干扰和损耗也愈发严重。通道去嵌误差是影响高速信号完整性的关键因素之一，它会导致信号失真、眼图恶化，进而降低通信系统的性能。多端口TRL（Thru-Reflect-Line）校准技术和频变损耗补偿模型为抑制112G+通道去嵌误差提供了有效的解决方案。
