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Chiplet互连的信号完整性优化：UCIe接口的S参数提取与眼图分析
随着Chiplet技术成为异构集成的主流方案，UCIe（Universal Chiplet Interconnect Express）接口的信号完整性成为制约系统性能的关键瓶颈。本文提出一种基于多物理场仿真的信号完整性优化方法，通过全波电磁仿真提取UCIe接口的S参数，结合时域眼图分析评估通道性能。实验表明，该方法使UCIe通道的插入损耗降低22%，眼图张开度提升35%，误码率（BER）优于10^-15，为3nm及以下制程Chiplet设计提供可靠保障。
