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EDA环境衔接测量软件 电子产品开发周期大幅缩短
消费性电子产品汰换周期越来越短，且功能复杂度不断提高，使得系统研发人员面临缩短产品开发时间的严峻挑战。所幸，现今自动化测试系统已开始导入开放式FPGA，将有助EDA开发环境与测量软件的整合，让工程师可同时进行系统设计与测试，加快研发时程。
消费性电子产品汰换周期越来越短，且功能复杂度不断提高，使得系统研发人员面临缩短产品开发时间的严峻挑战。所幸，现今自动化测试系统已开始导入开放式FPGA，将有助EDA开发环境与测量软件的整合，让工程师可同时进行系统设计与测试，加快研发时程。
