如图所示为电容器检测筛选电路。该电路的核心是由555与一些阻容元件构成的多谐振荡器和单稳态触发器。多谐振荡器由IC1(555)和R1、C2等组成,其③脚输出的周期约为1.4秒的脉冲波形作为触发电路IC2、IC3、IC4的触发控制
如图所示为信号幅度在给定时限内的检测电路。该检测电路由整流滤波电路、电压比较器、单稳定时器、信号电平鉴别器、反馈通道等组成。 输入信号经整流滤波后加至电压比较器IC1(CH3130)的反向输入端,以与IC1的同相输入
如下图所示为双线圈金属探测器电路。该探测器由探测头、发射器、接收器、定时器和音响发射器等组成。发射电路如图(b)所示,由多谐振荡器(IC1、R1、R2、C2)、单稳定时器(IC2、R4、C4)组成,且定时器IC2受多谐振荡器IC
如图所示为音响逻辑电平探头电路。该探头由电压比较器、多谐振荡器、压电陶瓷片HTD等组成。其中后两者组成音响电路,以音响频率的高低来判别TTL或CMOS器件电平的高低。电压比较器LM339(IC1)中的IC1-1、IC1-2各为1/4
如图所示为555和741运放好坏鉴别器电路。由555(IC1)和R1、R2、C1等组成的多谐振荡器的振荡频率为f=1.44/(R1+2R2)C1,图示参数对应的振荡频率约为1Hz。若IC1(555)是好的,则其③脚输出的信号将驱动发光二极管LED1周期
如图所示为五用途三态声频逻辑笔电路。该电路主要由多谐振荡器、四双向开关CD4066(IC1)与一些阻容元件构成的门电路等组成。其中多谐 振荡器由555(IC2)和R7、R8、R9、C1构成,其振荡频率受IC1-3的通断状态控制。
如图所示为多路温度测试电路。该测试电路主要由以555为核心构成的单稳延时电路组成。 当按下按钮AN时,IC1(555)因②脚为低电平而发生置位,③脚输出的高电平使继电器J1吸合,相应将该通道的热电偶接通。同时,发光管
如图所示为振动测试电路。该测试电路由加速度计TA-25、集成运算放大器741(IC1、IC3、IC5、IC7)、场效应管输入的低漂移运算放大器等组成。其应用于周期性加速检测。由加速计TA-25输出的信号经过集成电路IC1(741)的低通
如图所示为数字式电容测试电路。该测试仪由时基脉冲发生器、单稳态触发器、加法计数器、译码、驱动器及LED发光数码管等组成。时基脉冲发生器由IC1b(1/2 556)及R6、R7、R8、W1、W2、C2等组成,其输出的脉冲信号作为计
据市场调研公司iSuppli的最新排名,2007年高通(Qualcomm)超过德州仪器(TI),成为全球最大的无线IC供应商。多年来德州仪器一直是全球最大的无线IC供应商。但据iSuppli公司,2007年高通的营业收入增长速度高于整体