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直击PXI TAC 2017：如何应对智能时代下的测试挑战？
今年正值PXI技术诞生20周年之际，由NI（美国国家仪器，National Instruments，简称“NI”）公司主办的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召开。作为业界最具影响力的PXI专业论坛，PXI TAC 已经连续举办14年，这次PXI TAC回归本质，以用户为核心，聚焦用户应用，让用户看到最前沿的智能测试技术和趋势，以及在热点应用上的方向。
今年正值PXI技术诞生20周年之际，由NI（美国国家仪器，National Instruments，简称“NI”）公司主办的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召开。作为业界最具影响力的PXI专业论坛，PXI TAC 已经连续举办14年，这次PXI TAC回归本质，以用户为核心，聚焦用户应用，让用户看到最前沿的智能测试技术和趋势，以及在热点应用上的方向。
