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ALTECC_DECODER IP核的IEEE 1500 Wrapper设计
摘要 IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中，完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此，如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1500提供了IP核的测试
摘要 IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中，完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此，如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1500提供了IP核的测试
