嵌入式系统作为现代智能设备的核心,其可靠性直接关系到工业控制、医疗设备、自动驾驶等关键领域的运行安全。据行业统计,95%的嵌入式系统存在潜在安全缺陷,而硬件故障导致的系统异常占比高达40%。
在电力电子与高频开关电路中,二极管的反向恢复过程是影响系统效率与可靠性的关键因素。当二极管从正向导通状态切换至反向截止时,并非瞬时完成,而是存在一个动态过渡阶段,这一过程被称为反向恢复。理解其机理对优化电路设计、降低损耗及避免电磁干扰至关重要。
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