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通过电源去耦保持电源进入集成电路的低阻抗
在电子电路的设计与应用中，确保电源进入集成电路(IC)的稳定性至关重要。电源去耦作为一种关键技术手段，对于维持电源进入 IC 各点的低阻抗发挥着不可或缺的作用。无论是模拟集成电路，如放大器和转换器，还是混合信号器件，像 ADC 和 DAC，亦或是数字 IC，例如 FPGA，它们的正常工作都与电源的稳定性紧密相连。
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模拟电路抗干扰设计进阶：电源去耦与共模噪声协同抑制技术
在精密模拟电路设计中，电源噪声与共模干扰已成为制约系统信噪比的核心瓶颈。以16位ADC采集系统为例，电源纹波每增加1mV可能引入0.5LSB的量化误差，而共模干扰通过寄生电容耦合至差分输入端时，可使有效位数（ENOB）下降2~3位。本文提出一种基于电源抑制比（PSRR）优化与电磁兼容（EMC）防护的协同设计方法，通过多级去耦网络与共模扼流圈的联合应用，在医疗电子设备中实现噪声抑制>60dB，共模干扰衰减>85dB的技术突破。
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如何通过电源去耦保持集成电路(IC)的低阻抗
在电子系统设计中，电源去耦是一个至关重要的环节，特别是对于集成电路(IC)来说，保持电源进入IC的低阻抗对于确保系统的稳定性和性能至关重要。本文将从电源去耦的基本概念出发，深入探讨如何通过有效的去耦措施来保持电源进入IC的低阻抗，从而提高系统的整体性能。
