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应对复杂测试环境：测试探头尖的防护与耐用性设计
测试探头作为连接测试设备与被测对象的关键桥梁，其性能直接影响着测试结果的准确性和可靠性。而在复杂多变的测试环境中，测试探头尖面临着诸多挑战，防护与耐用性设计成为了保障其正常工作的重要因素。
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碳化硅肖特基二极管产品系列，你了解吗？
什么是碳化硅肖特基二极管产品系列?它有什么作用?Littelfuse作为全球电路保护领域的领先企业，今日宣布新推出了四个隶属于其第2代产品家族的1200V碳化硅(SiC)肖特基二极管系列产品，该产品家族最初于2017年5月发布。
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Gen9HV LDMOS 140W RF PA晶体管，你了解吗？
什么是Gen9HV LDMOS 140W RF PA晶体管?他有什么作用?2018年6月6日荷兰奈梅亨 – 埃赋隆半导体(Ampleon)今天宣布推出专为诸如数字视频广播(DVBT)和特高频(UHF)模拟电视等UHF广播应用设计的BLF989射频(RF)功率晶体管。
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用于BLDC电机的增量编码器
使用无刷直流电机的编码器，或其他反馈系统的方法，如步进电机的闭环IC，预测性维护可以内置到任何应用中。
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三星Galaxy Note 8最新耐用性测试：表现优秀
三星Galaxy Note 8即将在美国上市开卖，现在知名评测达人JerryRigEverything带来了这款旗舰的耐用性测试。
