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半导体良率难升，缺陷地图先说话
良率卡住时，最先该看的往往不是终测报表，而是缺陷地图。半导体产线里的失效如果有空间分布，问题通常已经不是单个器件坏，而是某道工序在系统性偏移。
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更快地解决SPC和FDC违规问题
使用SmartFactory Knowledge Advisor内建OCAP解决方案，来扩展工厂的自动化智能能力
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TDK发布SPC接口的新型抗杂散场3D HAL®位置传感器
带SPC接口的霍尔效应3D位置传感器允许主动杂散场补偿
